Личный кабинет
Подробное описание документа
Малышев, К. В. Наноматериалы для радиоэлектронных средств : методические указания / К. В. Малышев, В. М. Башков, С. А. Мешков. — Москва : МГТУ им. Н.Э. Баумана, [б. г.]. — Часть 2 : Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа — 2007. — 42 с.
В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.
