Личный кабинет
Подробное описание документа
Методы сканирующей силовой микроскопии : учебное пособие / Н. А. Давлеткильдеев, И. А. Лобов, Е. Ю. Мосур, Д. В. Соколов. - Омск : Омский государственный университет им. Ф. М. Достоевского (ОмГУ), 2020. -
Изложены физические основы сканирующей силовой микроскопии, описаны методы статической и динамической атомно-силовой микроскопии, сканирующей силовой микроскопии зонда Кельвина.Содержит задания для практических работ. Для студентов бакалавриата и магистратуры физического факультета, изучающих дисциплины «Современные методы исследования вещества» и «Микроскопические методы исследования биоструктур».
