Личный кабинет
Подробное описание документа
Малышев К. В.
Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Ч. 2: Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа [Электронный ресурс] : методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств" / Малышев К. В., Башков В. М., Мешков С. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2007. - 39 с. : ил.
Скачать документ
В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ.
Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.
