Гончаров Антон Сергеевич

   Исследование параметров микрооптических и дифракционных элементов с помощью технологии корреляционной микроскопии Shuttle and Find / Гончаров А. С., Ковалев М. С., Соломашенко А. Б., Кузнецов А. С. - DOI 10.18698/2308-6033-2012-9-361 // Инженерный журнал: наука и инновации. - 2012. - № 9. - П.Н. 17.