Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Амирханян Лиана Гариковна

Статьи

   Материал конференции
Амирханян Л. Г.
   Обнаружение дефектов на изображениях изделий в условиях Индустрии 4.0 / Амирханян Л. Г. // III Международный конгресс «Русский инженер». Вызовы и возможности подготовки будущих инженеров с предпринимательским мышлением VII Международная научно-практическая конференция. - М., 2026. - С. 7-10.