Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Амирханян Лиана Гариковна

Статьи

   Материал конференции
Амирханян Л. Г.
   Обнаружение дефектов на изображениях изделий в условиях Индустрии 4.0 / Амирханян Л. Г. // Русский инженер, Международный конгресс, 3-й / МГТУ им. Н. Э. Баумана. - 2026. - Т. 8 : Вызовы и возможности подготовки будущих инженеров с предпринимательским мышлением : сб. ст. 7-й Междунар. науч.-практ. конф. (Москва, 29 - 30 окт. 2025 г.). - С. 7-10.