Подробное описание документа
Амирханян Л. Г.
Обнаружение дефектов на изображениях изделий в условиях Индустрии 4.0 / Амирханян Л. Г. // Русский инженер, Международный конгресс, 3-й / МГТУ им. Н. Э. Баумана. - 2026. - Т. 8 : Вызовы и возможности подготовки будущих инженеров с предпринимательским мышлением : сб. ст. 7-й Междунар. науч.-практ. конф. (Москва, 29 - 30 окт. 2025 г.). -
В условиях современного промышленного производства критически важно обеспечивать высокое качество выпускаемой продукции. Жесткие требования стандартов, минимизация допусков и необходимость отслеживания каждой единицы изделия в совокупности с ростом скоростей производства формируют комплексную технологическую задачу. Традиционные методы контроля, основанные на ручном осмотре, зачастую неэффективны из-за человеческого фактора, низкой скорости и высокой стоимости. Одним из наиболее перспективных направлений в этой области является применение методов компьютерного зрения и глубокого обучения для обнаружения дефектов на изображениях изделий. Рассмотрены основные подходы к обнаружению дефектов, их преимущества и ограничения.
Статья опубликована в следующих изданиях
Т. 8 : Вызовы и возможности подготовки будущих инженеров с предпринимательским мышлением : сб. ст. 7-й Междунар. науч.-практ. конф. (Москва, 29 - 30 окт. 2025 г.). - 2026. - 110 с. : рис., табл. - Библиогр.
