Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

   Материал конференции

Амирханян Л. Г.
   Обнаружение дефектов на изображениях изделий в условиях Индустрии 4.0 / Амирханян Л. Г. // III Международный конгресс «Русский инженер». Вызовы и возможности подготовки будущих инженеров с предпринимательским мышлением VII Международная научно-практическая конференция. - М., 2026. - С. 7-10.

Скачать документ
Полнотекстовый документ

В условиях современного промышленного производства критически важно обеспечивать высокое качество выпускаемой продукции. Жесткие требования стандартов, минимизация допусков и необходимость отслеживания каждой единицы изделия в совокупности с ростом скоростей производства формируют комплексную технологическую задачу. Традиционные методы контроля, основанные на ручном осмотре, зачастую неэффективны из-за человеческого фактора, низкой скорости и высокой стоимости. Одним из наиболее перспективных направлений в этой области является применение методов компьютерного зрения и глубокого обучения для обнаружения дефектов на изображениях изделий. Рассмотрены основные подходы к обнаружению дефектов, их преимущества и ограничения.

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 7-10
   III Международный конгресс «Русский инженер». Вызовы и возможности подготовки будущих инженеров с предпринимательским мышлением VII Международная научно-практическая конференция. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2026. - [112] с. - ISBN 978-5-7038-6832-4.