Малышев Константин Васильевич

Малышев К. В.
   Квазипериодические полупроводниковые короткие сверхрешетки для нейроподобных сетей / Малышев К. В. // Нано- и микросистемная техника. - 2015. - № 2. - С. 45-56.

Малышев К. В.
   Зондовая сборка наноколец из проводящих наночастиц / Малышев К. В. // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 1-2. - С. 56-59.

Малофеев К. В., Малышев К. В.
   Исследование терагерцового квантового каскадного лазера на основе слоистых алюминий—галлий—арсеникум наноструктур / Малофеев К. В., Малышев К. В. // Наноинженерия. - 2013. - № 9. - С. 16-21.

Малышев К. В., Потапов А. А., Чернышев С. Л.
   Фигурные сверхрешетки в классической задаче фильтрации сигнала на фоне шума на основе клеточной нелинейной сети / Малышев К. В., Потапов А. А., Чернышев С. Л. // Радиотехника и электроника. - 2013. - Т. 58, № 4. - С. 367-374.

Малышев К. В.
   Зондовая нанотехнология сборки проводящих наночастиц / Малышев К. В. // Приборы. - 2012. - № 4. - С. 46-54.

Малышев К. В.
   Многоцветный терагерцовый лазер на фигурных сверхрешетках / Малышев К. В. // Приборы. - 2012. - № 8. - С. 43-48.

Малышев К. В., Чернышев С. Л.
   Вольт-амперные характеристики фигурных AlGaAs сверхрешеток / Малышев К. В., Чернышев С. Л. // Нано- и микросистемная техника. - 2011. - № 2. - С. 48-54.

Малышев К. В.
   Наночастицы в сканирующем туннельном микроскопе / Малышев К. В. // Приборы. - 2011. - № 6. - С. 1-7.

Малышев К. В., Шашурин В. Д.
   Наносборка квантовых нитей из наночастиц с помощью сканирующего туннельного микроскопа / Малышев К. В., Шашурин В. Д. // Инженерно-физические проблемы новой техники : сборник материалов 8-го Всероссийского совещания-семинара, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 24-26 окт. 2006 г. / Федеральное агентство по образованию, МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Институт проблем машиноведения РАН, Институт психологии РАН. - М., 2006. - С. 22-23.

   Формирование гетероструктур наноприборов методом молекулярно-лучевой эпитаксии : учеб. пособие / Шашурин В. Д., Малышев К. В., Мешков С. А. [и др.] ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009. - 42 с. : ил. - Библиогр.: с. 41.

   Исследование показателей качества СВЧ-микросхем с помощью системы Advanced Design System (ADS) компании Agilent Technologies : учебное пособие / Алексаноров Р. Ю., Малышев К. В., Мешков С. А. [и др.] ; ред. Федоров И. Б. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2008. - 77 с. ил. - Библиогр.: с. 76. - ISBN 978-5-7038-3131-1.