Морозов Алексей Борисович

   Высокоточный метод контроля параметров локальных отклонений нанометрового уровня поверхности оптической детали / Барышников Н. В., Денисов Д. Г., Карасик В. Е., Абдулкадыров М. А., Игнатов А. Н., Патрикеев В. Е., Семёнов А. П., Морозов А. Б., Судариков И. Н., Шаров Ю. А. // Оптический журнал. - 2018. - Т. 85, № 3. - С. 54-61.

   Метод аттестационного контроля поверхностных неоднородностей оптических деталей на основе частотного анализа профиля поверхности / Денисов Д. Г., Барышников Н. В., Гладышева Я. В., Карасик В. Е., Морозов А. Б., Патрикеев В. Е. // Измерительная техника. - 2017. - № 2. - С. 15-19.

   Разработка и исследование метода динамической интерферометрии для высокоточного контроля локальных отклонений поверхности оптической детали / Барышников Н. В., Денисов Д. Г., Карасик В. Е., Морозов А. Б., Патрикеев В. Е., Сулейманов Г. М. // Лазеры в науке, технике, медицине : Междунар. конф. XXVIII, Дубна, 27 Июня-1 Июля 2017 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Моск. научно-техн. о-во радиотехники, электроники и связи им. А. С. Попова, Рос. онкологический научный центр им. Н. Н. Блохина. - 2017. - Т. 28 : Сборник научных трудов по материалам докладов конф. - С. 160-164.