Обухов Игорь Васильевич

Чикмарев А. Д., Обухов И. В.
   Применение двухканальной схемы измерений для оценки статистических характеристик средств измерений электрических величин / Чикмарев А. Д., Обухов И. В. // Приборы. - 2019. - № 2. - С. 14-16.

Обухов И. В., Обухов Д. О.
   Система искусственного интеллекта как измерительный прибор при конкурсном отборе объектов / Обухов И. В., Обухов Д. О. // Приборы. - 2019. - № 7. - С. 13-16.

Коленкин А. В., Обухов И. В.
   Экспериментальная оценка компонентов погрешностей средств геометрических измерений и характеристик микрогеометрии образца / Коленкин А. В., Обухов И. В. // Будущее машиностроения России : сборник докладов 11-й Всерос. конф. молодых учёных и специалистов (с междунар. участием), Москва, 24-27 сентября 2018 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Союз машиностроителей России. - М., 2018. - С. 69-72.

Коленкин А. В., Обухов И. В.
   Об оценке погрешности средства измерений линейно-угловых величин статистическими методами / Коленкин А. В., Обухов И. В. // Состояние и проблемы измерений : сборник материалов XIV Всерос. научно-техн. конф., МГТУ им. Н. Э. Баумана, 18-20 апреля 2017 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, Институт проблем машиностроения РАН, Институт машиноведения им. А. А. Благонравова РАН. - М., 2017. - С. 93-96.

Обухов И. В., Лось Л. А.
   Развитие модельного мышления в лабораторном практикуме по метрологии / Обухов И. В., Лось Л. А. // Состояние и проблемы измерений : сборник материалов XIV Всерос. научно-техн. конф., МГТУ им. Н. Э. Баумана, 18-20 апреля 2017 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, Институт проблем машиностроения РАН, Институт машиноведения им. А. А. Благонравова РАН. - М., 2017. - С. 313-315.

Обухов И. В., Лось Л. А.
   О необходимости увеличения в лабораторном практикуме по метрологии в машиностроительных вузах доли лабораторных работ, связанных с динамическими измерениями / Обухов И. В., Лось Л. А. // Состояние и проблемы измерений : сборник материалов XIV Всерос. научно-техн. конф., МГТУ им. Н. Э. Баумана, 18-20 апреля 2017 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, Институт проблем машиностроения РАН, Институт машиноведения им. А. А. Благонравова РАН. - М., 2017. - С. 316-318.

Комшин А. С., Обухов И. В., Сырицкий А. Б.
   О возможности оценки постоянной составляющей систематической погрешности средств измерений посредством обработки результатов измерений / Комшин А. С., Обухов И. В., Сырицкий А. Б. // Приборы. - 2016. - № 2. - С. 24-29.

Обухов И. В., Коленкин А. В., Минязева Л. Х.
   Линейный профиль поверхности как случайная функция со стационарными приращениями / Обухов И. В., Коленкин А. В., Минязева Л. Х. // Приборы. - 2016. - № 12. - С. 26-29.

Обухов И. В.
   Измерение статистических характеристик источников информационных сигналов / Обухов И. В. // Метрология. - 2015. - № 4. - С. 13-19.

Комшин А. С., Обухов И. В., Сырицкий А. Б.
   Измерения параметров топографии поверхности при помощи сканирующего зондового микроскопа SOLVER P47 : метод. указания к лаб. работе по курсу "Физические основы измерений", "Квантовая метрология" / Комшин А. С., Обухов И. В., Сырицкий А. Б. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во НИИ РЛ МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2015. - 36 с. : ил. - Библиогр.: с. 36.