Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана
Очистить
17 записей
Антонов А. А.
   Разработка комплекса технических и методических средств для оценки уровня остаточных напряжений в сварных магистральных трубопроводах методом лазерной интерферометрии : автореф. дис... дтн : 05. 02. 11 : 05. 02. 10 / Антонов А. А. ; Российский гос. ун-т нефти и газа им. И. М. Губкина. - М., 2019. - 32 с.
2 экз.
Гладышева Я. В.
   Метод и аппаратура динамической интерферометрии для контроля качества поверхности крупногабаритных оптических деталей : дис... ктн : 05. 11. 07 / Гладышева Я. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2019. - 167 л. : ил. - Библиогр.: л. 159-167.
1 экз.
Гладышева Я. В.
   Метод и аппаратура динамической интерферометрии для контроля качества поверхности крупногабаритных оптических деталей : автореф. дис... ктн : 05. 11. 07 / Гладышева Я. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2019. - 16 с. : ил.
2 экз.
   Автореферат диссертации
Морозов А. Н.
   Математическое моделирование стохастических процессов в высокодобротных системах : 05. 13. 16 : автореф. дис... дфмн / Морозов А. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1994. - 28 с.
1 экз.
   Диссертация
Морозов А. Н.
   Математическое моделирование стохастических процессов в высокодобротных системах : 05. 13. 16 : дис... дфмн / Морозов А. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1994. - 274 л. - Библиогр.: л. 257-274.
1 экз.
   Автореферат диссертации
Золотаревский С. Ю.
   Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : автореф. дис... дтн : 05. 11. 15 / Золотаревский С. Ю. ; Всерос. НИИ метрологической службы. - М., 2015. - 32 с. : ил.
2 экз.
   Диссертация
Золотаревский С. Ю.
   Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : дис... дтн : 05. 11. 15 / Золотаревский С. Ю. ; Всерос. НИИ метрологической службы. - М., 2015. - 328 л. : ил. - Библиогр.: л. 299-321.
1 экз.
Страница: ... 1 2