Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана
Очистить
26 записей
Ковба Л. М.
   Рентгенография в неорганической химии : учебное пособие для вузов / Ковба Л. М. - Москва : Изд-во Московского университета, 1991. - 254 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-211-01630-0.
1 экз.
   Диагностика микроэлектронных структур : сборник статей / РАН ; отв. ред. тома Афанасьев А. М. - Москва : Наука, 1993. - 110 с. : ил. - (Труды / Физико-технологический институт АН (ФТИАН) ; т. 5). - Библиогр. в конце статей. - ISBN 5-02-006981-7.
1 экз.
Сатдарова Ф. Ф.
   Дифракционный анализ деформированных металлов. Теория, методика, программное обеспечение : монография / Сатдарова Ф. Ф. - Москва : РИОР : ИНФРА-М, 2018. - 203 с. : ил. - (Научная мысль). - Библиогр.: с.194-201. - ISBN 978-5-369-01527-8. - ISBN 978-5-16-011559-7. - ISBN 978-5-16-104139-0.
1 экз.
Илюшин А. С., Орешко А. П.
   Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов : в 2 ч. / Илюшин А. С., Орешко А. П. - 2-е изд., испр. и доп. - Москва : Юрайт, 2019. - (Авторский учебник). - ISBN 978-5-534-04317-4.
   Ч. 1. - 2019. - 326 с. : ил. - ISBN 978-5-534-04316-7.
2 экз.
Илюшин А. С., Орешко А. П.
   Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов : в 2 ч. / Илюшин А. С., Орешко А. П. - 2-е изд., испр. и доп. - Москва : Юрайт, 2019. - (Авторский учебник). - ISBN 978-5-534-04317-4.
   Ч. 2. - 2019. - 298 с. : ил. - Библиогр.: с.268-298. - ISBN 978-5-534-04324-2.
2 экз.
Суворов Э. В.
   Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов / Суворов Э. В. - Москва : Юрайт, 2021. - 271 с. : ил. - (Высшее образование). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-534-09995-9.
3 экз.
Илюшин, А. С.  Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 1 : учебник для вузов / А. С. Илюшин, А. П. Орешко. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 327 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-04316-7.
ЭБС «Юрайт»
Зевин Л. С., Хейкер Д. М.
   Рентгеновские методы исследования строительных материалов / Зевин Л. С., Хейкер Д. М. - Москва : Стройиздат, 1965. - 361 с. : ил. - Библиогр. в конце гл.
1 экз.
Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебник для вузов / Э. В. Суворов. — 3-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 342 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-17203-4.
ЭБС «Юрайт»
Горелик С. С., Скаков Ю. А., Расторгуев Л. Н.
   Рентгенографический и электронно-оптический анализ : учебное пособие для вузов / Горелик С. С., Скаков Ю. А., Расторгуев Л. Н. - 3-е изд., перераб. и доп. - Москва : МИСиС, 1994. - 327 с. : ил. - ISBN 5-87623-001-4.
2 экз.
Страница: ... 1 2 3 ...