Расширенный поиск

   Закономерности равновесия и устойчивости узловых дислокационных конфигураций / Бобров Р. Б., Востров Н. Н., Проскурнин А. Н., Сидоров В. С., Логинов Б. М. // Наукоемкие технологии. - 2014. - Т. 15, № 8. - С. 3-12.

Зуев Э. Н.
   Основы техники подземной передачи электроэнергии : учебное пособие для вузов / Зуев Э. Н. - М. : Энергоатомиздат, 1999. - 253 с. : ил. - Библиогр.: с. 251-253. - ISBN 5-283-01243-3.

Иванов И. Н.
   Снижение диэлектрических потерь в высоковольтных трансформаторах напряжения / Иванов И. Н. // Вопросы управления процессами : сборник статей / ред. Меньков Б. В. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1974. - Ч. 3 / ред. Нитусов Ю. Е. - С. 100-105.

Иванова О. А.
   Математическое моделирование аэроупругих колебаний провода линии электропередачи : автореф. дис... кф-мн : 05. 13. 18 / Иванова О. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2013. - 16 с.

Иванова О. А.
   Математическое моделирование аэроупругих колебаний провода линии электропередачи : дис... кф-мн : 05. 13. 18 / Иванова О. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2013. - 142 л. - Библиогр.: л. 131-142.

   Изучение возможностей использования электроннозондовых методов для субмикронной диагностики материалов и структур электронной техники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. ; рук. темы Степович М. А. - М., 2003. - 140 л. - Библиогр.: л. 130-140. - Шифр Т00-2.2-852. - ГР 01200110405. - Инв. № 02.20.0303192.

   Исследование и разраб. катодолюминесцентного метода диагностики локальных электрофизич. параметров полупроводников : отчет о НИР (заключ.) / МГТУ. Фил. в Калуге ; рук. темы Степович М. А. - М., 2000. - 65 л.

   Исследование методами компьютерного моделирования наноскопических характеристик композиционных материалов / Коржавый А. П., Логинов Б. М., Логинова М. Б., Белов Ю. С., Рыбкин С. В. // Наукоемкие технологии. - 2017. - Т. 18, № 2. - С. 53-63.

   Исследование механических характеристик однослойных и многослойных наноструктур на основе углеродных и фторуглеродных покрытий / Елинсон В. М., Щур П. А., Кириллов Д. В., Лямин А. Н., Сильницкая О. А. // Поверхность: рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2018. - № 4. - С. 69-73.

   Исследование оптических свойств GaAs, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низких температурах роста, с delta-легированными слоями Si / Лаврухин Д. В., Ячменев А. Э., Бугаев А. С., Галиев Г. Б., Климов Е. А., Хабибуллин Р. А., Пономарев Д. С., Мальцев П. П. // Физика и техника полупроводников. - 2015. - Т. 49, № 7. - С. 932-935.