Расширенный поиск

Дидык П. И., Жуков А. А.
   Принципы функционирования, типовые конструкции исполнительных элементов и устройства микросистемной техники : учебное пособие / Дидык П. И., Жуков А. А. ; ред. Жуков А. А. - М. : КУРС, 2022. - 94 с. : ил. - Библиогр.: с. 87-92. - ISBN 978-5-907228-74-0.

Дорошевич В. К.
   Рекомендации к построению и содержанию нормативной документации предприятий по статистическому контролю и регулированию технологических процессов микросхем / Дорошевич В. К. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 9. - С. 21-22.

Дорошевич В. К.
   Требования к обеспечению качества и управлению технологическим процессом изготовления микросхем / Дорошевич В. К. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 6. - С. 26-28.

Дорошевич В. К.
   Требования к системе проектирования микросистем / Дорошевич В. К. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 5. - С. 32-33.

Драгунов В. П., Косцов Э. Г.
   МЭМ электростатический генератор энергии / Драгунов В. П., Косцов Э. Г. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 11. - С. 47-52.

Драгунов В. П., Остертак Д. И.
   Электростатические взаимодействия в МЭМС с плоскопараллельными электродами. Часть I. Расчет емкостей / Драгунов В. П., Остертак Д. И. // Нано- и микросистемная техника. - 2010. - № 7. - С. 37-41.

Драгунов В. П., Остертак Д. И.
   Электростатические взаимодействия в МЭМС с плоскопараллельными электродами. Часть II. Расчет электростатических сил / Драгунов В. П., Остертак Д. И. // Нано- и микросистемная техника. - 2010. - № 8. - С. 40-47.

Дракин А. Ю., Зотин В. Ф., Потапов Л. А.
   Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов : монография / Дракин А. Ю., Зотин В. Ф., Потапов Л. А. - СПб. : Лань, 2018. - 282 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература) (Магистратура и аспирантура). - Библиогр.: с. 272-279. - ISBN 978-5-8114-3312-4.

Дронов Н. Н., Макарчук В. В., Макушина Н. В.
   Технологические процессы микроэлектроники : метод. указания к выполнению лаб. практикума / Дронов Н. Н., Макарчук В. В., Макушина Н. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2016. - 20 с. : ил. - Библиогр. в конце брош. - ISBN 978-5-7038-4358-1.

Егоров В. В.
   Влияние микронеровностей поверхности на характеристики изображений в оптических прецизионных измерителях. Скалярное приближение. Часть II. / Егоров В. В. // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - № 4. - С. 26-31.