455 записей
Моделирование микропроцессорных БИС в САПР электромеханических устройств. Материалы по математическому обеспечению ЭВМ / авт.-сост. Смольский А. Н., Кумейко И. В. ; Академия наук Белорусской ССР, Институт технической кибернетики. - Минск, 1990. - 103 с.
Проблемы построения САПР СБИС : сборник научных трудов / Академия наук Белорусской ССР, Институт технической кибернетики ; науч. ред. Мищенко В. А. - Минск : Изд-во Института технической кибернетики, 1990. - 136 с. : ил. - Библиогр. в конце статей .
Куликов И. В.
Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем. Критерий качества и надежности : [монография] / Куликов И. В. - СПб. : Политехника, 2017. - 171 с. : ил. - Библиогр.:с. 169-171 . - ISBN 978-5-7325-1115-4 .
Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем. Критерий качества и надежности : [монография] / Куликов И. В. - СПб. : Политехника, 2017. - 171 с. : ил. - Библиогр.:
Иовдальский В. А.
Гибридные интегральные схемы СВЧ-диапазона : учеб. пособие для вузов / Иовдальский В. А. ; науч. ред. Борисов А. А. - М. : КУРС, 2018. - 142 с. : ил. - Библиогр.:с. 131-141 . - ISBN 978-5-906923-93-6 .
Гибридные интегральные схемы СВЧ-диапазона : учеб. пособие для вузов / Иовдальский В. А. ; науч. ред. Борисов А. А. - М. : КУРС, 2018. - 142 с. : ил. - Библиогр.:
Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507 : практическое пособие : в 4 кн. / Научно-производственный комплекс "Технологический центр" ; общ. ред. Сауров А. Н. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2019. - (Мир электроники).
Кн. 1 : Методология проектирования и освоение производства / Денисов А. Н., Коняхин В. В. - 2019. - 196 с. разд. паг. : рис., табл. -ISBN 978-5-94836-442-1 .
Кн. 1 : Методология проектирования и освоение производства / Денисов А. Н., Коняхин В. В. - 2019. - 196 с. разд. паг. : рис., табл. -
Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507 : практическое пособие : в 4 кн. / Научно-производственный комплекс "Технологический центр" ; общ. ред. Сауров А. Н. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2019. - (Мир электроники).
Кн. 3 : Библиотека функциональных ячеек для проектирования полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 / Денисов А. Н., Фомин Ю. П., Коняхин В. В., Фёдоров Р. А. - 2019. - 315 с. разд. паг. : ил. -ISBN 978-5-94836-440-7 .
Кн. 3 : Библиотека функциональных ячеек для проектирования полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 / Денисов А. Н., Фомин Ю. П., Коняхин В. В., Фёдоров Р. А. - 2019. - 315 с. разд. паг. : ил. -
Иовдальский В. А., Манченко Л. В., Соколов И. А.
Внутрисхемные соединения в ГИС СВЧ-диапазона : учебное пособие для вузов / Иовдальский В. А., Манченко Л. В., Соколов И. А. ; науч. ред. Борисов А. А. - М. : КУРС, 2019. - 122 с., [8] л. рис. : рис., табл. - Библиогр.:с. 115-119 . - ISBN 978-5-907064-34-8 .
Внутрисхемные соединения в ГИС СВЧ-диапазона : учебное пособие для вузов / Иовдальский В. А., Манченко Л. В., Соколов И. А. ; науч. ред. Борисов А. А. - М. : КУРС, 2019. - 122 с., [8] л. рис. : рис., табл. - Библиогр.:
Королева А. Н.
Разработка научно-методических основ управления качеством базовых технологий, используемых при проектировании и производстве сверхбольших интегральных схем : 05. 27. 06-Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : автореф. дис... ктн / Королева А. Н. ; Научно-исследовательский ин-т молекулярной электроники (АО "НИИМЭ"). - М., 2021. - 16 с.
Разработка научно-методических основ управления качеством базовых технологий, используемых при проектировании и производстве сверхбольших интегральных схем : 05. 27. 06-Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : автореф. дис... ктн / Королева А. Н. ; Научно-исследовательский ин-т молекулярной электроники (АО "НИИМЭ"). - М., 2021. - 16 с.
Королева А. Н.
Разработка научно-методических основ управления качеством базовых технологий, используемых при проектировании и производстве сверхбольших интегральных схем : 05. 27. 06-Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : дис... ктн / Королева А. Н. ; Научно-исследовательский ин-т молекулярной электроники (АО "НИИМЭ"). - М., 2021. - 123 л. : табл. - Библиогр.:л. 107-116 .
Разработка научно-методических основ управления качеством базовых технологий, используемых при проектировании и производстве сверхбольших интегральных схем : 05. 27. 06-Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : дис... ктн / Королева А. Н. ; Научно-исследовательский ин-т молекулярной электроники (АО "НИИМЭ"). - М., 2021. - 123 л. : табл. - Библиогр.:
