Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана
Очистить
10528 записей
Бычков А. А.
   Устойчивость и разрушение дефектных механических наноструктур : монография / Бычков А. А. - М. : РУСАЙНС, 2022. - 97 с. : ил. - Библиогр.: с. 92-98. - ISBN 978-5-4365-9630-3.
2 экз.
Бычков С. И., Румянцев К. Е.
   Поиск и обнаружение оптических сигналов : монография / Бычков С. И., Румянцев К. Е. ; ред. Румянцев К. Е. ; Таганрогский государственный радиотехнический университет. - Таганрог : Изд-во ТРТУ ; М. : Радио и связь, 2000. - 281 с. : ил. - Библиогр.: с. 273-279. - ISBN 5-256-01049-2.
1 экз.
Бычков Ю. А., Золотницкий В. М., Чернышов Э. П.
   Основы теории электрических цепей : учебник для вузов / Бычков Ю. А., Золотницкий В. М., Чернышов Э. П. ; Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В. И. Ульянова (Ленина). - СПб. : Лань, 2002. - 464 с. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 452. - ISBN 5-9511-0009-7.
3 экз.
Бычков Ю. А., Золотницкий В. М., Чернышев Э. П.
   Основы теории электрических цепей : учебник для вузов / Бычков Ю. А., Золотницкий В. М., Чернышев Э. П. ; Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В. И. Ульянова (Ленина). - 3-е изд., стер. - СПб. : Лань, 2004. - 464 с. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 452. - ISBN 5-9511-0009-7.
4 экз.
   Бюллетень новых разработок интегральных микросхем / сост. Кулешова В. И., Глухова С. А., Виноградов И. Е. ; ЦКБ "Дейтон". - М. : Изд-во ЦКБ "Дейтон", 2014. - 93 с.
1 экз.
   В копилку радиолюбителя. Популярные схемы и конструкции / ред. Гриф А. - М. : СОЛОН-Пресс, 2007. - (СОЛОН - радиолюбителям).
   Кн. 2. - 2007. - 175 с. : ил. - ISBN 5-98003-268-1.
2 экз.
   Статья
Вавилов В. Д., Глазков О. Н.
   Исследование стохастической погрешности микросистемного акселерометра / Вавилов В. Д., Глазков О. Н. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 8. - С. 27-29.
   Статья
Вавилов В. Д., Глазков О. Н.
   Математическая модель погрешностей и оборудование для статистических испытаний микросистемных акселерометров / Вавилов В. Д., Глазков О. Н. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 2. - С. 13-15.
   Статья
Вавилов В. П., Маринетти С.
   Сравнительный анализ теплового контроля коррозии в высоко- и низкотеплопроводных металлах / Вавилов В. П., Маринетти С. // Дефектоскопия. - 2008. - № 12. - С. 48-54.
   Статья
Вавилов В. П., Ширяев В. В., Нестерук Д. А.
   Тепловой контроль коррозии в алюминиевых панелях самолетов / Вавилов В. П., Ширяев В. В., Нестерук Д. А. // Дефектоскопия. - 2008. - № 4. - С. 48-57.
Страница: ... 126 127 128 129 130 131 132 133 134 ...