Расширенный поиск

   Элементарный учебник физики / ред. Ландсберг Г. С. - Москва : Наука, 1966.
   Т. 3 : Колебания, волны. Оптика. Строение атома. - 4-е изд., испр. - 1966. - 531 с. : рис.

   Элементарный учебник физики : учеб. пособие для вузов / ред. Ландсберг Г. С. - Москва : Наука, 1972.
   Т. 3 : Колебания, волны. Оптика. Строение атома. - 1972. - 638 с. : ил.

   Элементарный учебник физики : в 3 т. / ред. Ландсберг Г. С. - 8-е изд., стер. - Москва : Наука, 1973.
   Т. 3 : Колебания, волны. Оптика. Строение атома. - 1973. - 638 с., [4] с. рис. : ил.

   Элементарный учебник физики : учебное пособие : в 3 т. / ред. Ландсберг Г. С. - 10-е изд., перераб. - Москва : Наука, 1986.
   Т. 3 : Колебания и волны. Оптика. Атомная и ядерная физика. - 10-е изд., перераб. - 1986. - 655 с. : ил.

   Элементарный учебник физики : в 3 т. / ред. Ландсберг Г. С. - Москва : ШРАЙК : В. РОДЖЕР, 1995.
   Т. 3 : Колебания и волны. Оптика. Атомная и ядерная физика. - 1995. - 655 с. ил. : ил. - ISBN 5-87509-019-7.

   Элементарный учебник физики : в 3 т. / ред. Ландсберг Г. С. - 12-е изд. - М. : Физматлит, 2000. - ISBN 5-9221-0001-7.
   Т. 3 : Колебания и волны. Оптика. Атомная и ядерная физика. - 2000. - 654 с. : ил. - Библиогр. в конце кн. - ISBN 5-9221-0004-1.

   Элементарный учебник физики : [учебное пособие] : в 3 т. / ред. Ландсберг Г. С. - Москва : Физматлит, 2001. - ISBN 5-9221-0135-8.
   Т. 3 : Колебания и волны. Оптика. Атомная и ядерная физика. - 12-е изд. - 2001. - 654 с. : ил. - Библиогр. в конце кн. - ISBN 5-9221-0138-2.

   Элементы механики взаимодействия сплошной среды с электромагнитным полем : учеб. пособие / Головин Н. Н., Зарубин В. С., Кувыркин Г. Н., Станкевич И. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Зарубин В. С. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2003. - 47 с. - Библиогр.: с.46. - ISBN 5-7038-2350-1.

   Элементы теории систем и численные методы моделирования процессов тепломассопереноса : учебник для вузов / Швыдкий В. С., Спирин Н. А., Ладыгичев М. Г. [и др.] ; науч. ред. Швыдкий В. С. - Москва : Интермет Инжиниринг, 1999. - 519 с. : ил. - Библиогр.: с.519. - На обложке авторы не указаны. - ISBN 5-89594-019-6.

   Эллипсометрия - прецизионный метод контроля тонкопленочных структур с субнанометровым разрешением / Швец В. А., Спесивцев Е. В., Рыхлицкий С. В., Михайлов Н. Н. // Российские нанотехнологии. - 2009. - Т. 4, т. 3-4. - С. 106-118.