Расширенный поиск

   Управление качеством электронных средств : учебник для вузов / Глудкин О. П., Гуров А. И., Коробов А. И. [и др.] ; ред. Глудкин О. П. - Москва : Высшая школа, 1994. - 413 с. : ил. - Библиогр.: с.411.

Урик Винсент Дж.-мл., МакКинни Д. Д., Вилльямс К. Дж.
   Основы микроволновой фотоники / Урик Винсент Дж.-мл., МакКинни Д. Д., Вилльямс К. Дж. ; пер. с англ. Белкин М. Е., Мельников И. В., Яковлев В. П. ; ред. пер. Боев С. Ф., Сигов А. С. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2016. - 375 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-445-2.

Усачов В. П., Бушминский И. П.
   Вероятностные характеристики четвертьволнового согласующего перехода на МПЛ / Усачов В. П., Бушминский И. П. // Технология ЭВА : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Сыроватченко П. В. - М., 1978. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 286). - С. 29-39.

   Условия труда работников электронной промышленности и иммунологическая реактивность организма : межведомственный семинар, март 1981 г. - М. : Изд-во ЦНИИ "Электроника", 1981. - 72 с. : табл. - (Тезисы докладов и рекомендации научно-технических конференций, совещаний и семинаров по электронной технике. Серия 7, Технология, организация производства и оборудование / Центральный НИИ "Электроника" ; вып. 1(157)). - Библиогр. в конце статей.

   Устройство позиционирования на базе полупроводникового позиционно-чувствительного фотодатчика с отрицательной проводимостью / Новиков С. Г., Гурин Н. Т., Корнеев И. В., Терентьев М. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 12. - С. 58-60.

   Учебно-исследовательский нанотехнологический комплекс / Неволин В. К., Бобринецкий И. И., Строганов А. А., Симунин М. М., Горшков К. В. // Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 3-4. - С. 173-175.

Ушаков В. Н., Долженко О. В.
   Электроника: от элементов до устройств / Ушаков В. Н., Долженко О. В. - Москва : Радио и связь, 1993. - 351 с. : ил. - Библиогр.: с.350. - ISBN 5-256-00854-4.

Ушаков В. Н.
   Основы радиоэлектроники : учебник для вузов / Ушаков В. Н. - Москва : Высшая школа, 1979. - 286 с. : ил. - Библиогр.: с.284.

Файнштейн С. М.
   Обработка и защита поверхности полупроводниковых приборов / Файнштейн С. М. - 3-е изд., перераб. - Москва : Энергия, 1970. - 294 с. : ил. - Библиогр.: с.286-294.

Федорец В. Н., Белов Е. Н., Балыбин С. В.
   Технологии защиты микросхем от обратного проектирования в контексте информационной безопасности : монография / Федорец В. Н., Белов Е. Н., Балыбин С. В. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2019. - 215 с. : рис., табл. - (Мир электроники). - Библиогр.: с.181-199. - ISBN 978-5-94836-562-6.