179 записей
Расплавы металлургии полупроводников: строение и физико-химические свойства : сборник научных трудов / Денисов В. М., Пастухов Э. А., Ченцов В. П., Дубовиков Г. С. ; Академия наук СССР, Уральское отделение, Институт металлургии ; отв. ред. Ватолин Н. А. - Москва : Наука, 1991. - 319 с. : ил. - Библиогр.: с.297-317 . - ISBN 5-02-001510-5 .
Энциклопедия технологии полупроводниковых материалов. Электронная структура и свойства полупроводников : пер. с англ. / ред. Джексон К. А., Шретер В. - Воронеж : Водолей, 2004.
Т. 2 : Технологические процессы / ред. пер. с англ. Домашевская Э. П. - 2011. - IX, 908 с. : ил. - Библиогр.в конце гл. - ISBN 978-5-9273-1883-4 .
Т. 2 : Технологические процессы / ред. пер. с англ. Домашевская Э. П. - 2011. - IX, 908 с. : ил. - Библиогр.
Таиров Ю. М., Цветков В. Ф.
Технология полупроводниковых и диэлектрических материалов : учебник для вузов / Таиров Ю. М., Цветков В. Ф. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Высшая школа, 1990. - 422 с. : рис., граф. - Библиогр.:с.418 . - ISBN 5-06-001032-5 .
Технология полупроводниковых и диэлектрических материалов : учебник для вузов / Таиров Ю. М., Цветков В. Ф. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Высшая школа, 1990. - 422 с. : рис., граф. - Библиогр.:
Суворов, Э. В. Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов : учебник для вузов / Э. В. Суворов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 180 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-06011-9.
Афанасьев А. М., Александров П. А., Имамов Р. М.
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев / Афанасьев А. М., Александров П. А., Имамов Р. М. - Москва : Наука, 1989. - 151 с. : рис., граф. - Библиогр.:с.146-151 . - ISBN 5-02-014020-1 .
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев / Афанасьев А. М., Александров П. А., Имамов Р. М. - Москва : Наука, 1989. - 151 с. : рис., граф. - Библиогр.:
Щука, А. А. Электроника в 4 ч. Часть 1. Вакуумная и плазменная электроника : учебник для вузов / А. А. Щука, А. С. Сигов ; под редакцией А. С. Сигова. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 172 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-01763-2.
Щука, А. А. Электроника в 4 ч. Часть 3. Квантовая и оптическая электроника : учебник для вузов / А. А. Щука, А. С. Сигов ; ответственный редактор А. С. Сигов. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 117 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-01870-7.
Щука, А. А. Электроника в 4 ч. Часть 2. Микроэлектроника : учебник для вузов / А. А. Щука, А. С. Сигов ; ответственный редактор А. С. Сигов. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 326 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-01867-7.
Петрография. Основы кристаллооптики и породообразующие минералы : учебник для вузов / А. А. Маракушев, А. В. Бобров, Н. Н. Перцев, А. Н. Феногенов. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 307 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-20572-5.
