Расширенный поиск

Отто М.
   Современные методы аналитической химии / Отто М. ; ред. пер. с нем. Гармаш А. В. - 2-е изд., испр. - М. : Техносфера, 2006. - 543 с. ил. - (Мир химии). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-072-5.

   Парамагнитные дефекты структуры минералов песчано-глинистой породы / Ходяков А. А., Каймин Е. П., Константинова Л. И., Захарова Е. В. // Материаловедение. - 2009. - № 2. - С. 32-35.

Пентин Ю. А., Курамшина Г. М.
   Основы молекулярной спектроскопии : учеб. пособие для вузов / Пентин Ю. А., Курамшина Г. М. - М. : Мир : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2008. - 398 с. : ил. - (Методы в химии). - Библиогр.: с. 392-393. - ISBN 978-5-03-003846-9. - ISBN 978-5-94774-765-2.

Перес-Бендито Д., Сильва М.
   Кинетические методы в аналитической химии / Перес-Бендито Д., Сильва М. ; пер. с англ. Прохорова Г. В., Плетнев И. В. - М. : Мир, 1991. - 395 с. : рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-03-002109-4.

   Пероксид - чувствительный амперометрический сенсор на основе наночастиц диоксида марганца / Донцова Е. А., Будашов И. А., Еременко А. В., Курочкин И. Н. // Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 7-8. - С. 133-143.

Петров А. А., Пушкарева Е. А.
   Корреляционный спектральный анализ веществ. Анализ газовой фазы : учебное пособие для вузов / Петров А. А., Пушкарева Е. А. - СПб. : Химия, 1993. - 266 с. : рис. - Библиогр.: с. 264-266. - На обороте титульного листа: Кн. 1. - ISBN 5-7245-0806-0.

Пилипенко А. Т., Пятницкий И. В.
   Аналитическая химия : учебное пособие для вузов : в 2 кн. / Пилипенко А. Т., Пятницкий И. В. - М. : Химия, 1990. - (Для высшей школы). - ISBN 5-7245-0507-X.
   Кн. 1. - 1990. - 479 с. : ил. - ISBN 5-7245-0751-X.

Пилипенко А. Т., Пятницкий И. В.
   Аналитическая химия : учебное пособие для вузов : в 2 кн. / Пилипенко А. Т., Пятницкий И. В. - М. : Химия, 1990. - (Для высшей школы). - ISBN 5-7245-0507-X.
   Кн. 2. - 1990. - С.481-845  : ил. - Библиогр.: с. 827-830. - ISBN 5-7245-0752-8.

Пиотровская И. Н.
   Методика измерений и алгоритмы компенсации систематических погрешностей автоматического рефрактометра : автореф. дис... ктн : 05. 11. 07 / Пиотровская И. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2010. - 16 с.

Пиотровская И. Н.
   Методика измерений и алгоритмы компенсации систематических погрешностей автоматического рефрактометра : дис... ктн : 05. 11. 07 / Пиотровская И. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2010. - 161 л. - Библиогр.: л. 155-161.