Расширенный поиск

Валиков А. Н.
   Технология XSLT / Валиков А. Н. - Санкт-Петербург : БХВ-Петербург, 2002. - 525 с. - (Мастер). - Библиогр.: с.518. - ISBN 5-94157-129-1.

Валуев И. К.
   Повышение эффективности процессов технического обслуживания и ремонта насосного оборудования с помощью методов машинного обучения / Валуев И. К. // Комплексная автоматизация проектирования и производства (КАПП(М) - 2024) : материалы 2-ой молодёжной конференции с международным участием, Москва, 31 мая 2024 года / МГТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Карпенко А. П. - М., 2025. - С. 171-173.

Валуйский В. Н.
   Red Hat Linux 6.1 : практ. руководство / Валуйский В. Н. - Киев : Век+, 2000. - 366 с. : ил. - Библиогр. в конце кн. - ISBN 966-7140-16-4.

Вальвачев А. Н., Крисевич В. С.
   Программирование на языке ПАСКАЛЬ для персональных ЭВМ ЕС : справочное пособие / Вальвачев А. Н., Крисевич В. С. - Минск : Вышэйшая школа, 1989. - 222 с. : рис., табл. - Библиогр.: с.215-216. - ISBN 5-339-00212-8.

Вальков В. М.
   Микроэлектронные управляющие вычислительные комплексы. Системное проектирование и конструирование / Вальков В. М. - 2-е изд., перераб. и доп. - Ленинград : Машиностроение, Ленингр. отд-ние, 1990. - 223 с. : рис., граф., схемы. - Библиогр.: с.215-222. - ISBN 5-217-00922-5.

Вальковский В. А.
   Распараллеливание алгоритмов и программ. Структурный подход / Вальковский В. А. - Москва : Радио и связь, 1989. - 173 с. : ил. - Библиогр.: с.172-173. - ISBN 5-256-00195-7.

Вальпа О. Д.
   Полезные схемы с применением микроконтроллеров и ПЛИС / Вальпа О. Д. - Москва : Додэка-ХХI, 2006. - 415 с. : ил. + СD-ROM. - (Программируемые системы). - ISBN 5-94120-129-X.

Ван Лянпэн.
   Программные средства с использованием методов и алгоритмов кратномасштабного вейвлет анализа для обработки и поиска изображений : автореф. дис... ктн : 05.13.11 / Ван Лянпэн ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2019. - 18 с. : ил.

Ван Лянпэн.
   Программные средства с использованием методов и алгоритмов кратномасштабного вейвлет анализа для обработки и поиска изображений : дис... ктн : 05.13.11 / Ван Лянпэн ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2019. - 138 л. : ил. - Библиогр.: л.127-138.

Ван Тхань Зюи.
   Автоматизация обнаружения дефектов печати с использованием машинного зрения / Ван Тхань Зюи // Комплексная автоматизация проектирования и производства (КАПП(М) - 2024) : материалы 2-ой молодёжной конференции с международным участием, Москва, 31 мая 2024 года / МГТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Карпенко А. П. - М., 2025. - С. 63-67.