Личный кабинет
255 записей
Диссертация
Бысов С. А.
Разработка метода организации технологических систем на основе концентрации процессов механосборочного производства : дис.... ктн : 05.02.22 / Бысов С. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2012. - 173 л. : ил. - Библиогр.:л.139-148 .
Разработка метода организации технологических систем на основе концентрации процессов механосборочного производства : дис.... ктн : 05.02.22 / Бысов С. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2012. - 173 л. : ил. - Библиогр.:
1 экз.
Автореферат диссертации
Ермолаев М. М.
Разработка методов расчёта неподвижных соединений деталей машин с учётом податливости контактного слоя : автореф. дис... ктн : 05.02.02 / Ермолаев М. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2015. - 16 с. : ил.
Разработка методов расчёта неподвижных соединений деталей машин с учётом податливости контактного слоя : автореф. дис... ктн : 05.02.02 / Ермолаев М. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2015. - 16 с. : ил.
Читать онлайн
2 экз.
Диссертация
Ермолаев М. М.
Разработка методов расчёта неподвижных соединений деталей машин с учётом податливости контактного слоя : дис... ктн : 05.02.02 / Ермолаев М. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2015. - 135 л. - Библиогр.:л.128-136 .
Разработка методов расчёта неподвижных соединений деталей машин с учётом податливости контактного слоя : дис... ктн : 05.02.02 / Ермолаев М. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2015. - 135 л. - Библиогр.:
1 экз.
Автореферат диссертации
Золотаревский С. Ю.
Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : автореф. дис... дтн : 05.11.15 / Золотаревский С. Ю. ; Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы. - Москва, 2015. - 32 с. : ил.
Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : автореф. дис... дтн : 05.11.15 / Золотаревский С. Ю. ; Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы. - Москва, 2015. - 32 с. : ил.
2 экз.
Диссертация
Золотаревский С. Ю.
Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : дис... дтн : 05.11.15 / Золотаревский С. Ю. ; Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы. - Москва, 2015. - 328 л. : ил. - Библиогр.:л.299-321 .
Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : дис... дтн : 05.11.15 / Золотаревский С. Ю. ; Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы. - Москва, 2015. - 328 л. : ил. - Библиогр.:
1 экз.
Диссертация
Сахаров М. К.
Методика проектирования программ для решения задач глобальной параметрической оптимизации на слабосвязанных вычислительных системах : дис... ктн : 05.13.11 / Сахаров М. К. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2019. - 123 л. : ил. - Библиогр.:л.108-123 .
Методика проектирования программ для решения задач глобальной параметрической оптимизации на слабосвязанных вычислительных системах : дис... ктн : 05.13.11 / Сахаров М. К. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2019. - 123 л. : ил. - Библиогр.:
1 экз.
Автореферат диссертации
Сахаров М. К.
Методика проектирования программ для решения задач глобальной параметрической оптимизации на слабосвязанных вычислительных системах : автореф. дис... ктн : 05.13.11 / Сахаров М. К. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2019. - 17 с. : ил.
Методика проектирования программ для решения задач глобальной параметрической оптимизации на слабосвязанных вычислительных системах : автореф. дис... ктн : 05.13.11 / Сахаров М. К. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2019. - 17 с. : ил.
2 экз.
Диссертация
Фазилова К. Н.
Инструменты контроля качества технологических процессов интеллектуального машиностроительного производства : 05.02.22 Организация производства (машиностроение) : дис... ктн / Фазилова К. Н. ; Московский ин-т радиотехники, электроники и автоматики - Российский технологический университет (РТУ МИРЭА). - Москва, 2022. - 123 л. : ил. - Библиогр.:л.98-107 .
Инструменты контроля качества технологических процессов интеллектуального машиностроительного производства : 05.02.22 Организация производства (машиностроение) : дис... ктн / Фазилова К. Н. ; Московский ин-т радиотехники, электроники и автоматики - Российский технологический университет (РТУ МИРЭА). - Москва, 2022. - 123 л. : ил. - Библиогр.:
1 экз.
Автореферат диссертации
Фазилова К. Н.
Инструменты контроля качества технологических процессов интеллектуального машиностроительного производства : 05.02.22 Организация производства (машиностроение) : автореф. дис... ктн / Фазилова К. Н. ; Московский ин-т радиотехники, электроники и автоматики - Российский технологический университет (РТУ МИРЭА). - Москва, 2022. - 16 с. : ил.
Инструменты контроля качества технологических процессов интеллектуального машиностроительного производства : 05.02.22 Организация производства (машиностроение) : автореф. дис... ктн / Фазилова К. Н. ; Московский ин-т радиотехники, электроники и автоматики - Российский технологический университет (РТУ МИРЭА). - Москва, 2022. - 16 с. : ил.
2 экз.
Автореферат диссертации
Селиверстов Е. Ю.
Структурно-параметрическое согласование метаэвристических алгоритмов глобальной оптимизации с архитектурой графических процессорных устройств : 2.3.5 Математическое и программное обеспечение вычислительных машин, комплексов и компьютерных сетей (технические науки) : автореф. дис... ктн / Селиверстов Е. Ю. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2023. - 17 с.
Структурно-параметрическое согласование метаэвристических алгоритмов глобальной оптимизации с архитектурой графических процессорных устройств : 2.3.5 Математическое и программное обеспечение вычислительных машин, комплексов и компьютерных сетей (технические науки) : автореф. дис... ктн / Селиверстов Е. Ю. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2023. - 17 с.
2 экз.
