254 записи
Статья
Применение имплантации ионов кислорода и процесса твердофазной рекристаллизации для улучшения кристаллической структуры кремния на сапфире / Александров П. А., Демаков К. Д., Шемардов С. Г., Кузнецов Ю. Ю. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 3. - С. 54-56 .
Отчёт о НИР
Разработка методов субмикронной катодолюминесцентной диагностики прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ. Калужский филиал ; рук. нир Степанович М. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 77 л. - Библиогр.: л. 76-77 . - Шифр ОК-ФН3-01Ф . - Инв. № 02.200.204171 .
Разработка технологии синтеза алмазов в мягких условиях и исследование их полупроводниковых свойств : отчет о НИР (заключ.) / МГТУ. Каф. ФН-6-КФ ; рук. темы Федосеев И. В. - М., 1999. - 51 л. - Библиогр.: л. 48-51 .
Ржевский С. С.
Волны пляски проводов ВЛ 6-500 кВ. Методика расчёта больших амплитуд автоколебаний провода в пролёте воздушной ЛЭП. Теория констант единого поля : монография / Ржевский С. С. - М. : ПАИМС, 1999. - 231 с. : ил. -ISBN 5-89574-038-3 .
Волны пляски проводов ВЛ 6-500 кВ. Методика расчёта больших амплитуд автоколебаний провода в пролёте воздушной ЛЭП. Теория констант единого поля : монография / Ржевский С. С. - М. : ПАИМС, 1999. - 231 с. : ил. -
Ротенберг Б. А.
Керамические конденсаторные диэлектрики / Ротенберг Б. А. - СПб. : НИИ "Гириконд", 2000. - 245 с. : ил. - Библиогр.:с. 228-245 .
Керамические конденсаторные диэлектрики / Ротенберг Б. А. - СПб. : НИИ "Гириконд", 2000. - 245 с. : ил. - Библиогр.:
Роус Б.
Стекло в электронике / Роус Б. ; ред. пер. Степанов Г. А. ; пер. с чеш. Вайсфельд Н. М. - М. : Советское радио, 1969. - 354 с. : ил. - Библиогр.:с. 346-350 .
Стекло в электронике / Роус Б. ; ред. пер. Степанов Г. А. ; пер. с чеш. Вайсфельд Н. М. - М. : Советское радио, 1969. - 354 с. : ил. - Библиогр.:
Руководящий документ по безопасному производству работ электромонтерами-линейщиками при строительстве воздушных линий электропередачи. РД 153-34. 4-03. 220-2003 / сост. Осипов В. И., Гологорский Е. Г., Погожев И. М. [и др.]. - М. : Изд-во МЭИ, 2004. - 31 с. - ISBN 5-7046-1029-3 .
Рыков С. А.
Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учеб. пособие для вузов / Рыков С. А. ; ред. Ильин В. И., Шик А. Я. - СПб. : Наука, 2001. - 52 с. : ил. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр.:с. 51 . - ISBN 5-02-024956-4 .
Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учеб. пособие для вузов / Рыков С. А. ; ред. Ильин В. И., Шик А. Я. - СПб. : Наука, 2001. - 52 с. : ил. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр.:
Статья
Сарбаев Б. С., Семенюга В. В.
Способ расчета на прочность композитной электроизолирующей вставки для трубопроводных сетей / Сарбаев Б. С., Семенюга В. В. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Машиностроение. - 2005. - № 3. -С. 52-66 .
Способ расчета на прочность композитной электроизолирующей вставки для трубопроводных сетей / Сарбаев Б. С., Семенюга В. В. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Машиностроение. - 2005. - № 3. -
Семенов А. Б.
Классические структурированные кабельные системы : [монография] / Семенов А. Б. - М. : Горячая линия - Телеком, 2016. - 461 с. : ил. - Библиогр.:с. 444-451 . - ISBN 978-5-9912-0530-6 .
Классические структурированные кабельные системы : [монография] / Семенов А. Б. - М. : Горячая линия - Телеком, 2016. - 461 с. : ил. - Библиогр.: