Расширенный поиск

Пономаренко В. П., Филачев А. М.
   Инфракрасная техника и электронная оптика. Становление научных направлений (1946 - 2006) / Пономаренко В. П., Филачев А. М. - 2-е изд., стер. - М. : Физматкнига, 2008. - 334 с. : ил. - Библиогр.: с. 319-321. - ISBN 978-5-89155-175-6.

Соколова О. С., Богданов А. Г., Гризель А. В.
   Электронная микроскопия нанообъектов : учебно-метод. комплекс для магистров / Соколова О. С., Богданов А. Г., Гризель А. В. - М. : НОУДПО "Институт АйТи", 2011. - 140 с., [2] с. рис. : ил. - ISBN 978-5-98453-042-2.

Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А.
   Электронная микроскопия : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А. ; ред. Шахнов В. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 167 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 11). - Библиогр.: с. 160-164. - ISBN 978-5-7038-3502-9.

   Сканирующая зондовая микроскопия биополимеров / ред. Яминский И. В. - М. : Научный мир : Центр перспективных технологий, 1997. - 87 с. : ил. - (Сканирующая зондовая микроскопия ; вып. 1). - Библиогр. в конце статей. - ISBN 5-89176-031-2.

   Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ. / ред. Нан Яо, Чжун Лин Ван ; МГУ им. М. В. Ломоносова. Науч. -образоват. центр по нанотехнологиям ; науч. ред. Яминский И. В. - М. : Научный мир, 2011. - 711 с., [6] л. ил. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий. Справочники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91522-232-7.

Быков Ю. А., Карпухин С. Д.
   Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ (аппаратура, принципы работы, применение) : учеб. пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Быков Ю. А., Карпухин С. Д. ; ред. Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 30 с. : ил. - Библиогр.: с. 29. - ISBN 5-7038-2014-6.

Пономаренко В. П., Филачев А. М.
   Инфракрасная техника и электронная оптика. Становление научных направлений (1946-2011) / Пономаренко В. П., Филачев А. М. - 3-е изд., испр. и доп. - М. : Физматкнига, 2013. - 384 с. : ил. - ISBN 978-5-89155-222-7.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Уэйли Жу, Жонг Лин Уанга ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2016. - 582 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2018. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-9963-1110-1.