Расширенный поиск

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2018. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

Синдо Д., Оикава Т.
   Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : пер. с англ. / Синдо Д., Оикава Т. ; пер. Иванов С. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2006. - 249 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-064-4.

   Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие для вузов / Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И. [и др.]. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-200-7.

Снегирева Н. С., Валиев Х. Х., Карнет Ю. Н.
   Сканирующая зондовая микроскопия в изучении мембранных нанотехнологий : монография / Снегирева Н. С., Валиев Х. Х., Карнет Ю. Н. ; Институт прикладной механики РАН. - М. : РУСАЙНС, 2024. - 129 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-466-07460-4.

   Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ. / ред. Нан Яо, Чжун Лин Ван ; МГУ им. М. В. Ломоносова. Науч. -образоват. центр по нанотехнологиям ; науч. ред. Яминский И. В. - М. : Научный мир, 2011. - 711 с., [6] л. ил. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий. Справочники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91522-232-7.

   Структура и механические свойства фольг, полученных из нанокристаллического бериллия / Жигалина О. М., Семенов А. А., Забродин А. В., Хмеленин Д. Н., Брылев Д. А., Лизунов А. В., Небера А. Л., Морозов И. А., Аникин А. С., Орехов А. С., Кускова А. Н., Мишин А. В., Серегин А. В. // Кристаллография. - 2016. - Т. 61, № 4. - С. 526-534.

Фульц Б., Хау Дж. М.
   Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Фульц Б., Хау Дж. М. ; пер. с англ. Даниленко В. И. ; ред. пер. Мохов А. В. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2011. - 903 с. : ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-291-5.

Хокс П., Каспер Э.
   Основы электронной оптики : в 2 т. / Хокс П., Каспер Э. ; пер. с англ. Баранова Л. А., Орбели А. Л. ; ред. пер. Явор С. Я. - М. : Мир, 1993. - ISBN 5-03-002070-5.
   Т. 1 : Основы геометрической оптики. - 1993. - 551 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 518-546. - ISBN 5-03-002071-3.

Хокс П., Каспер Э.
   Основы электронной оптики : в 2 т. / Хокс П., Каспер Э. ; пер. с англ. Баранова Л. А., Орбели А. Л. ; ред. пер. Явор С. Я. - М. : Мир, 1993. - ISBN 5-03-002070-5.
   Т. 2 : Прикладная геометрическая оптика. - 1993. - 477 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 424-473. - ISBN 5-03-002072-1.

Эгертон Р. Ф.
   Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию. / Эгертон Р. Ф. ; пер. с англ. Иванов С. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2010. - 300 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 221-222. - ISBN 978-5-94836-254-0.