Личный кабинет
28 записей
Снегирева Н. С., Валиев Х. Х., Карнет Ю. Н.
Сканирующая зондовая микроскопия в изучении мембранных нанотехнологий : монография / Снегирева Н. С., Валиев Х. Х., Карнет Ю. Н. ; Институт прикладной механики РАН. - М. : РУСАЙНС, 2024. - 129 с. : ил. - Библиогр.в конце глав . - ISBN 978-5-466-07460-4 .
Сканирующая зондовая микроскопия в изучении мембранных нанотехнологий : монография / Снегирева Н. С., Валиев Х. Х., Карнет Ю. Н. ; Институт прикладной механики РАН. - М. : РУСАЙНС, 2024. - 129 с. : ил. - Библиогр.
1 экз.
Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ. / ред. Нан Яо, Чжун Лин Ван ; МГУ им. М. В. Ломоносова. Науч. -образоват. центр по нанотехнологиям ; науч. ред. Яминский И. В. - М. : Научный мир, 2011. - 711 с., [6] л. ил. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий. Справочники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91522-232-7 .
4 экз.
Статья
Структура и механические свойства фольг, полученных из нанокристаллического бериллия / Жигалина О. М., Семенов А. А., Забродин А. В., Хмеленин Д. Н., Брылев Д. А., Лизунов А. В., Небера А. Л., Морозов И. А., Аникин А. С., Орехов А. С., Кускова А. Н., Мишин А. В., Серегин А. В. // Кристаллография. - 2016. - Т. 61, № 4. - С. 526-534 .
Фульц Б., Хау Дж. М.
Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Фульц Б., Хау Дж. М. ; пер. с англ. Даниленко В. И. ; ред. пер. Мохов А. В. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2011. - 903 с. : ил. - (Мир физики и техники). -ISBN 978-5-94836-291-5 .
Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Фульц Б., Хау Дж. М. ; пер. с англ. Даниленко В. И. ; ред. пер. Мохов А. В. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2011. - 903 с. : ил. - (Мир физики и техники). -
2 экз.
Хокс П., Каспер Э.
Основы электронной оптики : в 2 т. / Хокс П., Каспер Э. ; пер. с англ. Баранова Л. А., Орбели А. Л. ; ред. пер. Явор С. Я. - М. : Мир, 1993. -ISBN 5-03-002070-5 .
Т. 1 : Основы геометрической оптики. - 1993. - 551 с. : рис., табл. - Библиогр.:с. 518-546 . - ISBN 5-03-002071-3 .
Основы электронной оптики : в 2 т. / Хокс П., Каспер Э. ; пер. с англ. Баранова Л. А., Орбели А. Л. ; ред. пер. Явор С. Я. - М. : Мир, 1993. -
Т. 1 : Основы геометрической оптики. - 1993. - 551 с. : рис., табл. - Библиогр.:
3 экз.
Хокс П., Каспер Э.
Основы электронной оптики : в 2 т. / Хокс П., Каспер Э. ; пер. с англ. Баранова Л. А., Орбели А. Л. ; ред. пер. Явор С. Я. - М. : Мир, 1993. -ISBN 5-03-002070-5 .
Т. 2 : Прикладная геометрическая оптика. - 1993. - 477 с. : рис., табл. - Библиогр.:с. 424-473 . - ISBN 5-03-002072-1 .
Основы электронной оптики : в 2 т. / Хокс П., Каспер Э. ; пер. с англ. Баранова Л. А., Орбели А. Л. ; ред. пер. Явор С. Я. - М. : Мир, 1993. -
Т. 2 : Прикладная геометрическая оптика. - 1993. - 477 с. : рис., табл. - Библиогр.:
3 экз.
Эгертон Р. Ф.
Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию. / Эгертон Р. Ф. ; пер. с англ. Иванов С. А. - М. : Техносфера, 2010. - 300 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.:с. 221-222 . - ISBN 978-5-94836-254-0 .
Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию. / Эгертон Р. Ф. ; пер. с англ. Иванов С. А. - М. : Техносфера, 2010. - 300 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.:
5 экз.
Электронная микроскопия тонких кристаллов / Хирш П., Хови А., Николсон Р. [и др.] ; ред. пер. с англ. Утевский Л. М. - М. : Мир, 1968. - 574 с. : ил. - Библиогр. в конце гл.
5 экз.
