Расширенный поиск

Солимар Л., Уолш Д.
   Лекции по электрическим свойствам материалов / Солимар Л., Уолш Д. ; пер. с англ. Баскаков С. И., Калинин С. И., Лобов В. А., Штыков В. В. ; ред. пер. Баскаков С. И. - Москва : Мир, 1991. - 501 с. : рис., табл., граф. - ISBN 5-03-001934-0.

   Справочник снабженца : ГОСТы, ТУ, ОСТы. - Москва : Торговый Дом Металлов, 2004.
   № 82 : Кабельная продукция(Кабели. Провода. Шнуры). Производители. - 2007. - 663 с. : ил. - ISBN 978-5-93588-072-9.

Стерлинг Л. Дж. мл., Бакстер Л.
   Кабельные системы / Стерлинг Л. Дж. мл., Бакстер Л. ; пер. с англ. Орлов С. - 2-е изд. - Москва : Лори, 2003. - 313 с. : ил. - Библиогр.: с.312-313. - ISBN 5-85582-181-1.

   Стойкость к биодеструкции нанокомпозитных материалов на основе хитозана / Нестеров С. Б., Нежметдинова Р. А., Елинсон В. М., Жуховицкий В. Г. // Наноинженерия. - 2013. - № 1. - С. 37-39.

Столяров М. А.
   Исследование процессов инжекционной модификации в структурах металл-диэлектрик-полупроводник и приборах на их основе : автореф. дис... ктн : 01.04.-7 / Столяров М. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал. - Москва, 2007. - 16 с.

Столяров М. А.
   Исследование процессов инжекционной модификации в структурах металл-диэлектрик-полупроводник и приборах на их основе : дис... ктн : 01.04.07 / Столяров М. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал. - Калуга, 2007. - 163 л. - Библиогр.: л.147-162.

   Структура, морфология и фотоэлектрические свойства гетероструктуры n-GaAs–p-(GaAs)1–x(Ge2) х / Зайнабидинов С. З., Саидов А. С., Бобоев А. Й., Абдурахимов Д. П. - DOI 10.18698/1812-3368-2022-1-72-87 // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Естественные науки. - 2022. - № 1. - С. 72-87.

   Субмикронная катодолюминесцентная диагностика прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчет о НИР (промежут.) / МГТУ. Фил. в Калуге ; рук. темы Степович М. А. - Москва, 2000. - 106 л.

   Субмикронная катодолюминесцентная диагностика прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал ; рук. НИР Степович М. А. - Москва, 2001. - 69 л. - Библиогр.: л.65-69. - Шифр ОК-ФН3-00Ф. - ГР 01200002393. - Инв. № 02.2.00104557.

   Субмикронная электроннозондовая диагностика материалов и структур микро- и наноэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал ; рук. темы Степанович М. А. - Москва, 2003. - 96 л. - Библиогр.: л.89-97. - Шифр ОК-ФН3-02Ф. - Инв. № 02.20.0302542.