Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана
Очистить
579 записей
Лифиц И. М.
   Стандартизация, метрология и подтверждение соответствия : учебник и практикум для прикладного бакалавриата / Лифиц И. М. - 12-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт, 2017. - 314 с. : ил. - (Бакалавр. Прикладной курс). - Библиогр.: с.313-314. - ISBN 978-5-534-02752-5.
2 экз.
Лифиц И. М.
   Стандартизация, метрология и сертификация : учебник для вузов / Лифиц И. М. - 5-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт-Издат, 2005. - 350 с. - Библиогр.: с.348-350. - ISBN 5-94879-340-0.
2 экз.
Лифиц И. М.
   Стандартизация, метрология и сертификация : учебник для вузов / Лифиц И. М. - 6-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт-Издат, 2006. - 350 с. - (Основы наук). - Библиогр.: с.348-350. - ISBN 5-94879-481-4.
4 экз.
Лифиц И. М.
   Стандартизация, метрология и сертификация : учебник для вузов / Лифиц И. М. - 7-е изд,, перераб. и доп. - Москва : Юрайт, 2007. - 399 с. : ил. - (Основы наук). - Библиогр.: с.396-399. - ISBN 978-5-94879-728-1.
3 экз.
Лифиц И. М.
   Стандартизация, метрология и сертификация : учебник для вузов / Лифиц И. М. - 8-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт, 2009. - 412 с. - (Основы наук). - Библиогр.: с.409-412. - ISBN 978-5-9788-0045-6.
2 экз.
Лич Р.
   Инженерные основы измерений нанометровой точности / Лич Р. ; пер. с англ. Заблоцкий А. В. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 399 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91559-119-5.
29 экз.
   Аналитическое описание
Лось Л. А., Титова Т. А.
   О многоуровневой подготовке метрологов в МГТУ им. Н. Э. Баумана к юбилею метрологической конференции "Состояние и проблемы измерений" / Лось Л. А., Титова Т. А. // Инженерно-физические проблемы новой техники : сборник материалов 11-го Всеросийского совещания-семинара, МГТУ им. Н. Э. Баумана,15-17 апреля 2014 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, РАН, Институт проблем машиноведения, Институт машиноведения им. А. А. Благонравова, Военно-воздушная академия им. проф. Н. Е. Жуковского и Ю. А. Гагарина, Институт общей физики им. А. М. Прохорова, Московский авиац. ин-т (МАИ). - М., 2014. - С. 272-273.
   Аналитическое описание
Лось Л. А., Титова Т. А.
   О правильной стандартной маркировке печатной продукции / Лось Л. А., Титова Т. А. // Инженерно-физические проблемы новой техники : сборник материалов 11-го Всеросийского совещания-семинара, МГТУ им. Н. Э. Баумана,15-17 апреля 2014 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, РАН, Институт проблем машиноведения, Институт машиноведения им. А. А. Благонравова, Военно-воздушная академия им. проф. Н. Е. Жуковского и Ю. А. Гагарина, Институт общей физики им. А. М. Прохорова, Московский авиац. ин-т (МАИ). - М., 2014. - С. 283-288.
Любомудров С. А., Смирнов А. А., Тарасов С. Б.
   Метрология, стандартизация и сертификация: нормирование точности : учебное пособие для вузов / Любомудров С. А., Смирнов А. А., Тарасов С. Б. - Москва : ИНФРА-М, 2015. - 204 с. : ил. - (Высшее образование. Бакалавриат). - Библиогр.: с.185. - ISBN 978-5-16-005246-5.
5 экз.
   Аналитическое описание
Ляндон Ю. Н.
   Вклад теории измерения в развитие измерительной техники ( По материалам ИМЕКО) / Ляндон Ю. Н. // Взаимозаменяемость, стандартизация и технические измерения : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Никифоров А. Д. - М., 1981. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 369). - С. 56-64.
Страница: ... 23 24 25 26 27 28 29 30 31 ...