290 записей
Автореферат диссертации
Чан Тиен Хай
Оптико-электронные приборы контроля погрешности перемещений объектов : автореф. дис... ктн : 05. 11. 07 / Чан Тиен Хай ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2014. - 16 с.
Оптико-электронные приборы контроля погрешности перемещений объектов : автореф. дис... ктн : 05. 11. 07 / Чан Тиен Хай ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2014. - 16 с.
Диссертация
Чернуцкий А. О.
Оптико-электронная система измерения температуры на основе распределённых волоконно-оптических датчиков : 2. 2. 6-Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы : дис... ктн / Чернуцкий А. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2022. - 155 л. : ил. - Библиогр.:л. 142-155 .
Оптико-электронная система измерения температуры на основе распределённых волоконно-оптических датчиков : 2. 2. 6-Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы : дис... ктн / Чернуцкий А. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2022. - 155 л. : ил. - Библиогр.:
Автореферат диссертации
Чернуцкий А. О.
Оптико-электронная система измерения температуры на основе распределённых волоконно-оптических датчиков : 2. 2. 6-Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы : автореф. дис... ктн / Чернуцкий А. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2022. - 16 с. : ил.
Оптико-электронная система измерения температуры на основе распределённых волоконно-оптических датчиков : 2. 2. 6-Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы : автореф. дис... ктн / Чернуцкий А. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2022. - 16 с. : ил.
Аналитическое описание
Чучаев В. В.
Методика расчета зонных масок / Чучаев В. В. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -С. 112-117 .
Методика расчета зонных масок / Чучаев В. В. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -
Аналитическое описание
Чучаев В. В.
Методика расчета параметров устройств для достижения заданного распределения толщины слоев покрытий / Чучаев В. В. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -С. 69-72 .
Методика расчета параметров устройств для достижения заданного распределения толщины слоев покрытий / Чучаев В. В. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -
Аналитическое описание
Шавырин И. Б.
Влияние изменения углового размера источника излучения на выходную характеристику измерительного преобразователя с призмой полного внутреннего отражения / Шавырин И. Б. // Оптоэлектроника : сборник статей / ред. Пахомов И. И. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1985. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 431). -С. 84-89 .
Влияние изменения углового размера источника излучения на выходную характеристику измерительного преобразователя с призмой полного внутреннего отражения / Шавырин И. Б. // Оптоэлектроника : сборник статей / ред. Пахомов И. И. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1985. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 431). -
Аналитическое описание
Шапочкин Б. А., Сергеев В. Н.
О форме поверхности планоидного зеркала без оси симметрии и возможности его изготовления вакуумной асферизацией / Шапочкин Б. А., Сергеев В. Н. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -С. 117-124 .
О форме поверхности планоидного зеркала без оси симметрии и возможности его изготовления вакуумной асферизацией / Шапочкин Б. А., Сергеев В. Н. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -
Аналитическое описание
Ширанков А. Ф.
Учёт углового параллакса при свето-энергетических расчетах геодезических светодальномеров / Ширанков А. Ф. // Оптоэлектроника : сборник статей / ред. Пахомов И. И. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1985. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 431). -С. 56-59 .
Учёт углового параллакса при свето-энергетических расчетах геодезических светодальномеров / Ширанков А. Ф. // Оптоэлектроника : сборник статей / ред. Пахомов И. И. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1985. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 431). -
Аналитическое описание
Штандель С. К., Румянцев В. В.
Прибор контроля эллипсоидных отражающих поверхностей / Штандель С. К., Румянцев В. В. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -С. 60-68 .
Прибор контроля эллипсоидных отражающих поверхностей / Штандель С. К., Румянцев В. В. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / ред. Семибратов М. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -
