Расширенный поиск

Немтинов В. Б.
   Математическое моделирование оптико-электронных систем / Немтинов В. Б. // Оптико-электронные приборы / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1988. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 519). - С. 3-19.

   Новый метод изготовления автокатодов из углерод-азотных нановолокон / Бормашов В. С., Лешуков М. Ю., Шешин Е. П., Бланк В. Д., Буга С. Г., Батов Д. В., Альшевский Ю. Л. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 1. - С. 10-13.

Овсянников Д. А., Егоров Н. В.
   Математическое моделирование систем формирования электронных и ионных пучков / Овсянников Д. А., Егоров Н. В. ; Санкт-Петербургский государственный университет. - СПб. : Изд-во Санкт-Петербургского университета, 1998. - 274 с. : ил. - Библиогр.: с. 259-272. - ISBN 5-288-01530-9.

   Оценка нагрева поверхности полупроводниковой мишени низкоэнергетичным электронным зондом / Амрастанов А. Н., Серегина Е. В., Степович М. А., Филиппов М. Н. // Поверхность: рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2018. - № 8. - С. 48-52.

Петин Б. Ф., Левов С. Н., Тростенюк Ю. В.
   Твердотельный преобразователь тепловых изображений / Петин Б. Ф., Левов С. Н., Тростенюк Ю. В. // Оптико-электронные приборы / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1988. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 519). - С. 79-94.

Подгуйко Н. А., Марахтанов М. К., Хохлов Ю. А.
   Исследование двухступенчатого холодного полого магнетронного катода / Подгуйко Н. А., Марахтанов М. К., Хохлов Ю. А. // Академические чтения по космонавтике, посвящённые памяти академика С. П. Королёва и других выдающихся отечественных учёных-пионеров освоения космического пространства, 46-е, 25 - 28 января 2022 года : в 4 т. / Российская академия наук, Государственная корпорация по космической деятельности "Роскосмос", Комиссия РАН по разработке научного наследия пионеров освоения космического пространства, МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - 2022. - Т. 1. - С. 276-278.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Уэйли Жу, Жонг Лин Уанга ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2016. - 582 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2018. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

Семенов А. П.
   Техника распыления ионными пучками / Семенов А. П. ; РАН. СО. Бурятский научный центр, Институт естественных наук ; отв. ред. Ломухин Ю. Л. - Улан-Удэ : Изд-во БНЦ СО РАН, 1996. - 118 с. - Библиогр.: с. 106-118. - ISBN 5-7623-1110-4.