Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана
Очистить
50 записей
Биркс Л. С.
   Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда / Биркс Л. С. ; ред. Нарбутт К. И. ; пер. с англ. Латунина И. П., Смирновой И. С. - М. : Металлургия, 1966. - 216 с. : ил. - Библиогр.: с. 205-213.
2 экз.
Боуэн Д. К., Таннер Б. К.
   Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : пер. с англ. / Боуэн Д. К., Таннер Б. К. ; отв. ред. Шульпина И. Л. ; пер. Шульпина И. Л., Аргунова Т. С. - СПб. : Наука, 2002. - 273 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-02-024963-7.
5 экз.
Ведринский Р. В., Гегузин И. И.
   Рентгеновские спектры поглощения твёрдых тел / Ведринский Р. В., Гегузин И. И. - М. : Энергоатомиздат, 1991. - 183 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.: с. 177-182. - ISBN 5-283-03923-4.
1 экз.
Жданов Г. С.
   Основы рентгеновского структурного анализа : учеб. пособие для ун-тов / Жданов Г. С. - М. ; Л. : Гостехиздат, 1940. - 446 с. : ил. - При участии А. И. Китайгородского.
2 экз.
Жигалина О. М., Назаркин Р. М.
   Исследование материалов методами рентгеноструктурного анализа : учебно-методическое пособие / Жигалина О. М., Назаркин Р. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М. : Изд-во УНЦ МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2023. - 114 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 106. - ISBN 978-5-7038-6058-8.
54 экз.
Зевин Л. С., Хейкер Д. М.
   Рентгеновские методы исследования строительных материалов / Зевин Л. С., Хейкер Д. М. - М. : Стройиздат, 1965. - 361 с. : ил. - Библиогр. в конце гл.
1 экз.
Зубенко В. В.
   Экспериментальные методы структурного анализа: Учебное пособие / Зубенко В. В. ; МГУ им. М. В. Ломоносова. - М., 1992. - 150 с. - 1р. 25к.
1 экз.
Илюшин А. С., Орешко А. П.
   Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов : в 2 ч. / Илюшин А. С., Орешко А. П. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : Юрайт, 2019. - (Авторский учебник). - ISBN 978-5-534-04317-4.
   Ч. 1. - 2019. - 326 с. : ил. - ISBN 978-5-534-04316-7.
2 экз.
Илюшин А. С., Орешко А. П.
   Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов : в 2 ч. / Илюшин А. С., Орешко А. П. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : Юрайт, 2019. - (Авторский учебник). - ISBN 978-5-534-04317-4.
   Ч. 2. - 2019. - 298 с. : ил. - Библиогр.: с. 268-298. - ISBN 978-5-534-04324-2.
2 экз.
   Статья
Ковалев А. А., Лобанова Е. М., Завозин В. А.
   Применение метода DAFS для оценки элементного состава приборных наноструктур / Ковалев А. А., Лобанова Е. М., Завозин В. А. // Технология металлов. - 2019. - № 6. - С. 40-46.
Страница: ... 1 2 3 4 5 ...