Подробное описание документа

Боуэн Д. К., Таннер Б. К.
   Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : пер. с англ. / Боуэн Д. К., Таннер Б. К. ; отв. ред. Шульпина И. Л. ; пер. Шульпина И. Л., Аргунова Т. С. - СПб. : Наука, 2002. - 273 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-02-024963-7.

Скачать оглавление

В книге освещены основы теории и практики современных неразрушающих ренгеновских методов исследования и контроля реальной структуры материалов электронной техники.Объединены высокоразрешающая дифрактометрия и топография,
которые особенно эффективно используются совместно, охвачены все аспекты их применения.
Для научных работников, инженеров,преподавателей и студентов.

УДК

539.26 Рентгеноструктурный анализ. Исследование сверхтонкой структуры вещества при помощи дифракции рентгеновских лучей

Предметные рубрики

• Рентгеноструктурный анализ

Общее кол-во в фондах

5 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

1. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
2. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
3. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
4. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313