Расширенный поиск

Синев Л. С., Рябов В. Т.
   Расчет коэффициентных напряжений в соединениях кремния со стеклом / Синев Л. С., Рябов В. Т. // Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 9. - С. 32-37.

   Системы автоматизированного проектирования БИС и радиоэлектронной аппаратуры : сборник статей / Академия наук СССР, Институт автоматизации проектирования. - М. : Наука, 1991. - 122 с. : рис. - Библиогр. в конце статей. - ISBN 5-02-006711-3.

   Систолические структуры / ред. Мур У., Маккейб Э., Уркхарт Р. ; пер. с англ. Аксенов В. П., Долгушев С. А., Донианц В. Н., Турута Е. Н. ; ред. пер. с англ. Турута Е. Н. - М. : Радио и связь, 1993. - 412 с. : ил. - Библиогр. в конце параграфов. - ISBN 5-256-00884-6.

Смирнов В. А., Шуваева О. В.
   Физические основы микроэлектроники : учебное пособие / Смирнов В. А., Шуваева О. В. - М. ; Вологда : Инфра-Инженерия, 2021. - 227 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-9729-0711-3.

Смирнов К. К.
   Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : дис... ктн : 05. 13. 12 / Смирнов К. К. ; Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет). - М., 2021. - 181 л. : ил. - Библиогр.: л. 168-174.

Смирнов К. К.
   Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : автореф. дис... ктн : 05. 13. 12 / Смирнов К. К. ; Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет). - М., 2021. - 14 с. : ил.

Смирнов Ю. А., Соколов С. В., Титов Е. В.
   Основы микроэлектроники и микропроцессорной техники : учеб. пособие / Смирнов Ю. А., Соколов С. В., Титов Е. В. - 2-е изд., испр. - СПб. : Лань, 2013. - 495 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр. в конце глав, с. 493. - ISBN 978-5-8114-1379-9.

Соловьев В. В.
   Проектирование цифровых систем на основе программируемых логических интегральных схем / Соловьев В. В. ; ред. Васин И. П. - М. : Горячая линия-Телеком, 2001. - 636 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-93517-043-4.

   Спектроскопия упругого отражения электронов как метод анализа элементного состава наноразмерных систем / Пронин В. П., Пономарев А. Н., Хинич И. И., Чистотин И. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 4. - С. 45-48.

Спирин В. Г.
   Контактное сопротивление тонкопленочного резистора / Спирин В. Г. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 10. - С. 56-60.