Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана
Очистить
61 запись
   Автореферат диссертации
Фазилова К. Н.
   Инструменты контроля качества технологических процессов интеллектуального машиностроительного производства : 05. 02. 22-Организация производства (машиностроениение) : автореф. дис... ктн / Фазилова К. Н. ; Московский институт радиотехники, электроники и автоматики - Российский технологический университет (РТУ МИРЭА). - М., 2022. - 16 с. : ил.
2 экз.
   Диссертация
Медовщиков А. В.
   Совершенствование методов проектирования контактно-нагруженных деталей машин : 2. 5. 2-Машиноведение : дис... ктн / Медовщиков А. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2024. - 123 л. : ил. - Библиогр.: л. 111-123.
1 экз.
   Автореферат диссертации
Медовщиков А. В.
   Совершенствование методов проектирования контактно-нагруженных деталей машин : 2. 5. 2-Машиноведение : автореф. дис... ктн / Медовщиков А. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2024. - 16 с. - Библиогр.: с. 16.
2 экз.
   Автореферат диссертации
Артамонов А. Н.
   Разработка метода оценки уровня внутреннего рассеяния энергии в сталях как критерия циклической прочности : 05. 02. 02 : автореф. дис... ктн / Артамонов А. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1984. - 16 с.
1 экз.
   Диссертация
Артамонов А. Н.
   Разработка метода оценки уровня внутреннего рассеяния энергии в сталях как критерия циклической прочности : 05. 02. 02 : дис... ктн / Артамонов А. Н. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1984. - 170 л. - Библиогр.: л. 130-140.
1 экз.
   Автореферат диссертации
Золотаревский С. Ю.
   Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : автореф. дис... дтн : 05. 11. 15 / Золотаревский С. Ю. ; Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы. - М., 2015. - 32 с. : ил.
2 экз.
   Диссертация
Золотаревский С. Ю.
   Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : дис... дтн : 05. 11. 15 / Золотаревский С. Ю. ; Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы. - М., 2015. - 328 л. : ил. - Библиогр.: л. 299-321.
1 экз.
   Диссертация
Мусохранов М. В.
   Технологическое обеспечение качества поверхностного слоя направляющих элементов машиностроения : 05. 02. 08 : дис... ктн / Мусохранов М. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2006. - 138 л. - Библиогр.: л. 121-128.
1 экз.
   Автореферат диссертации
Щемелев А. В.
   Разработка и исследование метода технологической адаптации, обеспечивающей качество деталей в изменяющейся производственной ситуации : 05. 02. 08 : автореф. дис... ктн / Щемелев А. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1990. - 16 с.
1 экз.
   Диссертация
Щемелев А. В.
   Разработка и исследование метода технологической адаптации, обеспечивающей качество деталей в изменяющейся производственной ситуации : 05. 02. 08 : дис... ктн / Щемелев А. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1990. - 244 л. - Библиогр.: л. 159-167.
1 экз.
Страница: ... 1 2 3 4 5 6 7 ...