Расширенный поиск

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Уэйли Жу, Жонг Лин Уанга ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2016. - 582 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2018. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

Семёнов А. П.
   Техника распыления ионными пучками / Семёнов А. П. ; РАН. СО. Бурятский научный центр, Институт естественных наук ; отв. ред. Ломухин Ю. Л. - Улан-Удэ : Изд-во БНЦ СО РАН, 1996. - 118 с. - Библиогр.: с.106-118. - ISBN 5-7623-1110-4.

Синдо Д., Оикава Т.
   Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : пер. с англ. / Синдо Д., Оикава Т. ; пер. Иванов С. А. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2006. - 249 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-064-4.

   Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие для вузов / Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И. [и др.]. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-200-7.

Смоляр В. А., Мелешко Е. С.
   Эффект близости при электронно-пучковом формировании гидрогелевых наноразмерных поверхностных биологически активных структур / Смоляр В. А., Мелешко Е. С. // Биомедицинские технологии и радиоэлектроника. - 2006. - № 4. - С. 54-61.

Снегирева Н. С., Валиев Х. Х., Карнет Ю. Н.
   Сканирующая зондовая микроскопия в изучении мембранных нанотехнологий : монография / Снегирева Н. С., Валиев Х. Х., Карнет Ю. Н. ; Институт прикладной механики РАН. - Москва : РУСАЙНС, 2024. - 129 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-466-07460-4.

   Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ. / МГУ им. М. В. Ломоносова. Научно-образовательный центр по нанотехнологиям ; ред. Нан Яо, Чжун Лин Ван ; науч. ред. Яминский И. В. - Москва : Научный мир, 2011. - 711 с., [6] л. ил. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий. Справочники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91522-232-7.

   Структура и механические свойства фольг, полученных из нанокристаллического бериллия / Жигалина О. М., Семенов А. А., Забродин А. В., Хмеленин Д. Н., Брылев Д. А., Лизунов А. В., Небера А. Л., Морозов И. А., Аникин А. С., Орехов А. С., Кускова А. Н., Мишин А. В., Серегин А. В. // Кристаллография. - 2016. - Т. 61, № 4. - С. 526-534.

   Физика и технология плазменных эмиссионных систем / Бабинов Н. А., Барченко В. Т., Груздев В. А. [и др.] ; Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В. И. Ульянова (Ленина) ; общ. ред. Барченко В. Т. - Санкт-Петербург : Изд-во СПбГЭТУ "ЛЭТИ", 2014. - 262 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-7629-1615-8.