Расширенный поиск

   Спектральные методы анализа. Практическое руководство : учебное пособие для вузов / Васильева В. И., Стоянова О. Ф., Шкутина И. В. [и др.] ; ред. Селеменев В. Ф., Семёнов В. Н. - СПб. : Лань, 2014. - 412 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - ISBN 978-5-8114-1638-7.

   Тепловое воздействие электронного зонда при рентгеноспектральном наноанализе / Амрастанов А. Н., Кузин А. Ю., Митюхляев В. Б., Серегина Е. В., Степович М. А., Тодуа П. А. // Измерительная техника. - 2017. - № 6. - С. 13-15.

Тищенко А. С., Фуфурин И. Л., Морозов А. Н.
   Определение характерных линий в ближнем инфракрасном диапазоне спектров компонентов природного газа / Тищенко А. С., Фуфурин И. Л., Морозов А. Н. // Необратимые процессы в природе и технике : сборник статей 13-ой Всероссийской конференции, Москва, 28-30 января 2025 года : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - 2025. - Т. 1. - С. 231-234.

   Формирование наноразмерных супрамолекулярных агрегатов в растворах цистеина и нитрата серебра / Комаров П. В., СанниковИ. П., Хижняк С. Д., Овчинников М. М., Пахомов П. М. // Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 11-12. - С. 130-135.

   Фотоэлектрический колориметр и его применение в химическом анализе / ред. Березовская Ф. И., Тартаковский И. С. ; сост. Давыдов А. Л. ; Днепропетровский государственный университет. - Днепропетровск, 1941. - 28 с. : рис., табл. - Библиогр. в конце брош.

Цепулин В. Г.
   Высокоскоростной спектрофотометрический метод измерения толщин многослойных пленочных структур : автореф. дис... ктн : 05. 11. 07 / Цепулин В. Г. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М., 2019. - 16 с.

Цепулин В. Г.
   Высокоскоростной спектрофотометрический метод измерения толщин многослойных пленочных структур : дис... ктн : 05. 11. 07 / Цепулин В. Г. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2019. - 167 л. : ил. - Библиогр.: л. 158-167.

Чалых А. Е., Алиев А. Д., Рубцов А. Е.
   Электронно-зондовый микроанализ в исследовании полимеров : монография / Чалых А. Е., Алиев А. Д., Рубцов А. Е. ; Академия наук СССР, Институт физической химии ; отв. ред. Захаров А. П. - М. : Наука, 1990. - 191 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-02-001355-2.

Чемякин Э. В., Алехнович В. И.
   Использование преобразования Фурье для определения двумерного распределения фазы статической интерференционной картины / Чемякин Э. В., Алехнович В. И. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Естественные науки. - 2004. - № 3. - С. 73-79.

Широкова Е. В.
   Моделирование процессов возбуждения рентгеновского излучения при взаимодействии киловольтных электронов с конденсированным веществом : автореф. дис... кф-мн : 01. 04. 07 / Широкова Е. В. ; Калужский государственный университет им. К. Э. Циолковского. - Калуга, 2016. - 16 с.