Расширенный поиск

Спасский А. А., Сушенцева А. В.
   Холодильное оборудование CLIMAVENETA для продовольственных терминалов с поддержанием микроклимата / Спасский А. А., Сушенцева А. В. // Холодильная техника. - 2015. - № 8. - С. 25-29.

Спектор А. Г., Зельберт Б. М., Киселева С. А.
   Структура и свойства подшипниковых сталей / Спектор А. Г., Зельберт Б. М., Киселева С. А. - Москва : Металлургия, 1980. - 263 с. : ил. - Библиогр.: с.254-262.

Спектор О. В., Кокорин В. С., Марченко Н. В.
   Металлургические расчеты : практикум / Спектор О. В., Кокорин В. С., Марченко Н. В. ; Красноярская государственная академия цветных металлов и золота. - Красноярск, 2003. - 76 с. - Библиогр.: с.75. - ISBN 5-8150-0165-1.

   Спектральная и временная динамики ультракоротких импульсов в гольмиевом волоконном усилителе / Филатова С. А., Камынин В. А., Жлуктова И. В., Трикшев А. И., Арутюнян Н. Р., Рыбин М. Г., Образцова Е. Д., Батов Д. Т., Воропаев В. С., Цветков В. Б. // Квантовая электроника. - 2019. - Т. 49, № 12. - С. 1108-1111.

   Спектральная обработка информации в радиолокационных станциях систем управления воздушным движением / Профатилова Г. А., Соловьев Г. Н., Ефремов В. С., Соловьев А. Г. - DOI 10.18698/0236-3933-2017-5-99-113 // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2017. - № 5. - С. 99-113.

   Спектральные методы контроля состояния сельскохозяйственных растений / Введенская А. В., Введенский В. В., Гинс М. С., Хорохоров А. М., Ширанков А. Ф. // Контенант. - 2018. - Т. 17, № 2. - С. 107-113.

   Спектрорадиометрическое устройство для дистанционного экологического контроля магистральных трубопроводов природного газа / Асатрян Р. С., Асатрян С. Р., Сукоян Л. А., Хачатрян Н. Р. // Дефектоскопия. - 2010. - № 8. - С. 67-72.

   Спектроскопические методы анализа нанокомпозитных материалов : учебно-метод. комплекс для подготовки бакалавров по тематическому направлению деятельности нац. нанотехнол. сети "Композитные наноматериалы" / Санкт-Петербургский государственный университет. - Санкт-Петербург : Изд-во Санкт-Петербургского государственного университета, 2011. - 138 с. : ил. - (Учебно-методический комплекс. Дисциплины ; вып. 18).

   Спектроскопия стоп-зон одномерного фотонного кристалла -мезопористого оксида алюминия / Горелик В. С., Климонский С. О., Напольский К. С., Филатов В. В. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники). XX Междунар. научно-техн. конф. Тонкие пленки в электронике. XXVII Междунар. симпозиума. Наноинженерия. VII Междунар. научно-техн. конф. : сборник научных трудов / МГТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Белянин А. Ф., Панфилов Ю. В., Самойлович М. И. - М., 2015. - С. 242-246.

   Спектроскопия упругого отражения электронов как метод анализа элементного состава наноразмерных систем / Пронин В. П., Пономарев А. Н., Хинич И. И., Чистотин И. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 4. - С. 45-48.