Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана
Очистить
90 записей
Рыков С. А.
   Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учеб. пособие для вузов / Рыков С. А. ; ред. Ильин В. И., Шик А. Я. - Санкт-Петербург : Наука, 2001. - 52 с. : ил. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр.: с.51. - ISBN 5-02-024956-4.
5 экз.
   Статья в журнале
   Стойкость к биодеструкции нанокомпозитных материалов на основе хитозана / Нестеров С. Б., Нежметдинова Р. А., Елинсон В. М., Жуховицкий В. Г. // Наноинженерия. - 2013. - № 1. - С. 37-39.
   Автореферат диссертации
Столяров М. А.
   Исследование процессов инжекционной модификации в структурах металл-диэлектрик-полупроводник и приборах на их основе : автореф. дис... ктн : 01.04.-7 / Столяров М. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал. - Москва, 2007. - 16 с.
2 экз.
   Диссертация
Столяров М. А.
   Исследование процессов инжекционной модификации в структурах металл-диэлектрик-полупроводник и приборах на их основе : дис... ктн : 01.04.07 / Столяров М. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал. - Калуга, 2007. - 163 л. - Библиогр.: л.147-162.
1 экз.
   Статья в журнале
   Структура, морфология и фотоэлектрические свойства гетероструктуры n-GaAs–p-(GaAs)1–x(Ge2) х / Зайнабидинов С. З., Саидов А. С., Бобоев А. Й., Абдурахимов Д. П. - DOI 10.18698/1812-3368-2022-1-72-87 // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Естественные науки. - 2022. - № 1. - С. 72-87.
   Субмикронная катодолюминесцентная диагностика прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчет о НИР (промежут.) / МГТУ. Фил. в Калуге ; рук. темы Степович М. А. - Москва, 2000. - 106 л.
1 экз.
   Отчёт о НИР
   Субмикронная катодолюминесцентная диагностика прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал ; рук. НИР Степович М. А. - Москва, 2001. - 69 л. - Библиогр.: л.65-69. - Шифр ОК-ФН3-00Ф. - ГР 01200002393. - Инв. № 02.2.00104557.
1 экз.
   Отчёт о НИР
   Субмикронная электроннозондовая диагностика материалов и структур микро- и наноэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал ; рук. темы Степанович М. А. - Москва, 2003. - 96 л. - Библиогр.: л.89-97. - Шифр ОК-ФН3-02Ф. - Инв. № 02.20.0302542.
1 экз.
Таиров Ю. М., Цветков В. Ф.
   Технология полупроводниковых и диэлектрических материалов : учебник для вузов / Таиров Ю. М., Цветков В. Ф. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Высшая школа, 1990. - 422 с. : рис., граф. - Библиогр.: с.418. - ISBN 5-06-001032-5.
4 экз.
Таиров Ю. М., Цветков В. Ф.
   Технология полупроводниковых и диэлектрических приборов : учебник для вузов / Таиров Ю. М., Цветков В. Ф. - 3-е изд., стер. - Санкт-Петербург : Лань, 2002. - 422 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с.418. - На обл. заглавие: Технология полупроводниковых и диэлектрических материалов. - ISBN 5-8114-0438-7.
7 экз.
Страница: ... 1 2 3 4 5 6 7 8 9 ...