Расширенный поиск

   Холловский ускоритель с фокусированным пучком для наноразмерной обработки крупногабаритных зеркал оптических телескопов / Воробьев Е. В., Духопельников Д. В., Ивахненко С. Г., Жуков А. В., Кириллов Д. В., Марахтанов М. К. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Машиностроение. - 2011. - Спец. вып. Ионно-плазменные технологии. - С. 35-41.

Шерстнёв П. В., Шешин Е. П., Ламанов М. М.
   Метод экспресс-тренировки и испытаний для автоэмиссионных катодов, изготовленных из графитовой фольги / Шерстнёв П. В., Шешин Е. П., Ламанов М. М. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 12. - С. 70-73.

Шешин Е. И., Никитин Н. Е.
   Термоэлектронная эмиссия : учебное пособие / Шешин Е. И., Никитин Н. Е. ; Московский физико-технический институт (государственный университет). - Москва : Изд-во МФТИ, 2017. - 91 с. : ил. - Библиогр.: с.91. - ISBN 978-5-7417-0637-4.

Шешин Е. П., Никитин Н. Е.
   Взрывная электронная эмиссия : учебное пособие для вузов / Шешин Е. П., Никитин Н. Е. ; Московский физико-технический институт (государственный университет). - Москва : Изд-во МФТИ, 2017. - 70 с. : ил. - Библиогр.: с.70. - ISBN 978-5-7417-0639-8.

Широкова Е. В., Степович М. А.
   Оценка использования новых матричных поправок в количественном рентгеноспектральном микроанализе / Широкова Е. В., Степович М. А. // Поверхность: рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2018. - № 4. - С. 96-100.

Эгертон Р. Ф.
   Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию. / Эгертон Р. Ф. ; пер. с англ. Иванов С. А. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2010. - 300 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с.221-222. - ISBN 978-5-94836-254-0.

   Электронная микроскопия тонких кристаллов / Хирш П., Хови А., Николсон Р. [и др.] ; ред. пер. с англ. Утевский Л. М. - Москва : Мир, 1968. - 574 с. : ил. - Библиогр. в конце гл.

   Электронно-микроскопические исследования металлов и сплавов : отечественная и иностранная литература по материалам "Информация о новой технической литературе" ОНТИ и библиографии Всесоюзного общества "Знание" за 1975 (частично 1974) гг. / Всесоюзное общество "Знание". - Москва, 1976. - 78 л. - (Библиогр. сб. / Центр. политехн. б-ка ; № 28/3).

   Электронно-микроскопические исследования металлов и сплавов : отечественная и иностранная литература по материалам "Информация о новой технической литературе" ОНТИ и библиографии Всесоюзного общества "Знание" за 1976 (частично 1975 ) гг. / Всесоюз. о-во "Знание", Отдел НТИ и библиогр. - Москва, 1977. - 128 л. - (Библиогр. сб. / Центр. политехн. б-ка ; № 28/4).

   Электронно-микроскопические исследования металлов и сплавов : отечественная и иностранная литература по материалам "Информация о новой технической литературе" ОНТИ и библиографии Всесоюзного общества "Знание" за 1977 (частично 1976) гг. / Всесоюзное общество "Знание". - Москва, 1978. - 98 с. - (Библиогр. сб. / Центр. политехн. б-ка ; № 28/5).