Подробное описание документа

   Электронная микроскопия тонких кристаллов / Хирш П., Хови А., Николсон Р. [и др.] ; ред. пер. с англ. Утевский Л. М. - М. : Мир, 1968. - 574 с. : ил. - Библиогр. в конце гл.

Аннотация

В настоящее время электронная микроскопия является одним из основных и высокоэффективных методов экспериментального исследования в физике твердого тела, материаловедении, биологии, химии и т. Д., широко применяемым не только в научно-исследовательских институтах н вузах, но и в промышленных лабораториях.
Данная книга представляет собой фундаментальную энциклопедическую монографию учебного характера, весьма полно освещающую основы теории и экспериментальную практику современной просвечивающей электронной микроскопии кристаллов. Подробно описаны техника приготовления образцов, методика работы с электронным микроскопом, большое внимание уделено теориям дифракции электронов и дифракционного контраста, интерпретации и анализу электронных микрофотографий и микроэлектронограмм реальных кристаллов.
Авторы книги - крупные английские ученые, известные своим большим вкладом в теорию, методику и применения электронной микроскопии кристаллов.
Книга предназначена для научных работников и инженеров, использующих электронную микроскопию в исследовательских и прикладных целях, а также для преподавателей и студентов - материаловедов и кристаллофизиков - в качестве дополнительного пособия по электронной микроскопии.

УДК

537.533.35 Электронная микроскопия

Предметные рубрики

• Кристаллы - Электронная микроскопия

Общее кол-во в фондах

5 экз.

1. Абонемент старших курсов, ГУК, ауд. 213
2. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
3. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
4. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
5. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313