171 запись
Запекина, Н. М. Технологии полиграфии : учебник для вузов / Н. М. Запекина. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 178 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-10598-8.
Кикоин К. А.
Электронные свойства примесей переходных металлов в полупроводниках / Кикоин К. А. - Москва : Энергоатомиздат, 1991. - 302 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.:с.293-300 . - ISBN 5-283-03992-7 .
Электронные свойства примесей переходных металлов в полупроводниках / Кикоин К. А. - Москва : Энергоатомиздат, 1991. - 302 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.:
Датта С.
Квантовый транспорт от атома к транзистору / Датта С. ; пер. с англ. Хомицкий Д. В. ; ред. пер. с англ. Демиховский В. Я. - Москва ; Ижевск : Изд-во Института компьютерных исследований : Регулярная и хаотическая динамика, 2009. - 531 с. - Библиогр.:с.516-527 . - ISBN 978-5-93972-744-0 .
Квантовый транспорт от атома к транзистору / Датта С. ; пер. с англ. Хомицкий Д. В. ; ред. пер. с англ. Демиховский В. Я. - Москва ; Ижевск : Изд-во Института компьютерных исследований : Регулярная и хаотическая динамика, 2009. - 531 с. - Библиогр.:
Карпухин С. Д., Быков Ю. А.
Атомно-силовая микроскопия : учеб. пособие по дисциплине "Современные методы исследования структуры материалов" / Карпухин С. Д., Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Быков Ю. А. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2012. - 38 с. : ил. - Библиогр.:с.38 .
Атомно-силовая микроскопия : учеб. пособие по дисциплине "Современные методы исследования структуры материалов" / Карпухин С. Д., Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Быков Ю. А. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2012. - 38 с. : ил. - Библиогр.:
Жигалина О. М., Базалеева К. О.
Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии : метод. указания к выполнению лаб. работы по дисциплине "Методы структурного анализа" / Жигалина О. М., Базалеева К. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2017. - 34 с. : ил. - Библиогр.:с.29 . - ISBN 978-5-7038-4785-5 .
Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии : метод. указания к выполнению лаб. работы по дисциплине "Методы структурного анализа" / Жигалина О. М., Базалеева К. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2017. - 34 с. : ил. - Библиогр.:
Морозова, К. Н. Основы электронной микроскопии : учебное пособие для вузов / К. Н. Морозова. — 2-е изд. — Москва : Издательство Юрайт, 2022. — 84 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-14415-4.
Суворов, Э. В. Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов : учебник для вузов / Э. В. Суворов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 180 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-06011-9.
Тимошенков, С. П. Надежность технических систем и техногенный риск : учебник и практикум для вузов / С. П. Тимошенков, Б. М. Симонов, В. Н. Горошко. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 551 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-19935-2.
Берикашвили, В. Ш. Радиотехнические системы: основы теории : учебник для вузов / В. Ш. Берикашвили. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 105 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-09917-1.
