Расширенный поиск

Кикоин К. А.
   Электронные свойства примесей переходных металлов в полупроводниках / Кикоин К. А. - Москва : Энергоатомиздат, 1991. - 302 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.: с.293-300. - ISBN 5-283-03992-7.

Датта С.
   Квантовый транспорт от атома к транзистору / Датта С. ; пер. с англ. Хомицкий Д. В. ; ред. пер. с англ. Демиховский В. Я. - Москва ; Ижевск : Изд-во Института компьютерных исследований : Регулярная и хаотическая динамика, 2009. - 531 с. - Библиогр.: с.516-527. - ISBN 978-5-93972-744-0.

Карпухин С. Д., Быков Ю. А.
   Атомно-силовая микроскопия : учеб. пособие по дисциплине "Современные методы исследования структуры материалов" / Карпухин С. Д., Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Быков Ю. А. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2012. - 38 с. : ил. - Библиогр.: с.38.

Соболев В. В.
   Оптические свойства и электронная структура неметаллов : [монография] / Соболев В. В. - Москва ; Ижевск : Институт компьютерных исследований, 2012.
   Т. II : Моделирование интегральных спектров элементарными полосами. - 2012. - 415 с. : ил. - Библиогр.: с.384-415. - ISBN 978-5-4344-0071-8.

Соболев В. В.
   Оптические свойства и электронная структура неметаллов : [монография] / Соболев В. В. - Москва ; Ижевск : Институт компьютерных исследований, 2012.
   Т. I : Введение в теорию. - 2012. - 583 с. : ил. - Библиогр.: с.538-579. - ISBN 978-5-4344-0058-9.

   Электронная структура и оптические спектры полупроводников : моногр. / Дагис Р., Бабонас Г., Каваляускас Ю. [и др.] ; АН ЛитССР, Ин-т физики полупроводников ; ред. Пожела Ю. - Вильнюс : Мокслас, 1987. - 224 с. : граф., схемы. - (Электроны в полупроводниках ; вып. 6). - Библиогр.: с.215-225.

Жигалина О. М., Базалеева К. О.
   Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии : метод. указания к выполнению лаб. работы по дисциплине "Методы структурного анализа" / Жигалина О. М., Базалеева К. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2017. - 34 с. : ил. - Библиогр.: с.29. - ISBN 978-5-7038-4785-5.

Морозова, К. Н.  Основы электронной микроскопии : учебное пособие для вузов / К. Н. Морозова. — 2-е изд. — Москва : Издательство Юрайт, 2022. — 84 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-14415-4.

Сейсян Р. П.
   Спектроскопия диамагнитных экситонов / Сейсян Р. П. ; ред. Захарченя Б. П. - 2-е изд., сущ. доп. - Москва : URSS : ЛЕНАНД, 2024. - 348 с. : рис., граф. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-9710-9753-2.

Суворов, Э. В.  Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов : учебник для вузов / Э. В. Суворов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 180 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-06011-9.