Подробное описание документа
Жигалина О. М.
Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии : метод. указания к выполнению лаб. работы по дисциплине "Методы структурного анализа" / Жигалина О. М., Базалеева К. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2017. - 34 с. : ил. - Библиогр.:
Рассмотрены способы пробоподготовки объектов в просвечивающем электронном микроскопе, основные режимы работы микроскопа, методы расчета электронограмм при определении ориентации кристаллов, типа и периодов кристаллической решетки вещества, идентификации фазового состава, а также процесс получения изображений структуры с атомным разрешением.
Для студентов, изучающих дисциплины «Методы структурного анализа», «Материаловедение», «Современные методы исследования материалов», «Материалы микро- и наноэлектроники» и др.
20 экз.![]()
- Абонемент младших курсов №1, УЛК, ауд. 247л
- Абонемент младших курсов №2, УЛК, ауд. 205л
- Абонемент третьего курса, УЛК, ауд. 311л
- Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
- Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
- Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
- Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313
- Читальный зал ауд.345, ГУК, ауд. 345
Похожие издания
