Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

Жигалина О. М., Базалеева К. О.
   Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии : метод. указания к выполнению лаб. работы по дисциплине "Методы структурного анализа" / Жигалина О. М., Базалеева К. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2017. - 34 с. : ил. - Библиогр.: с. 29. - ISBN 978-5-7038-4785-5.

Издательство МГТУ им. Н.Э. Баумана

Рассмотрены способы пробоподготовки объектов в просвечивающем электронном микроскопе, основные режимы работы микроскопа, методы расчета электронограмм при определении ориентации кристаллов, типа и периодов кристаллической решетки вещества, идентификации фазового состава, а также процесс получения изображений структуры с атомным разрешением.
Для студентов, изучающих дисциплины «Методы структурного анализа», «Материаловедение», «Современные методы исследования материалов», «Материалы микро- и наноэлектроники» и др.

20 экз.
Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов
  1. Абонемент младших курсов №1, УЛК, ауд. 247л
  2. Абонемент младших курсов №2, УЛК, ауд. 205л
  3. Абонемент третьего курса, УЛК, ауд. 311л
  4. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
  5. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
  6. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
  7. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313
  8. Читальный зал ауд.345, ГУК, ауд. 345

Похожие издания

Жигалина, О. М. Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии : методические указания / О. М. Жигалина, К. О. Базалеева. — Москва : МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2017. — 36 с. — ISBN 978-5-7038-4785-5.
ЭБС «Лань»