317220 записей
Альфа-, бета- и гамма- спектроскопия. - М. : Атомиздат.
Вып. 3 / Под ред. К. Зигбана, пер. с англ. - 1969. -674 с .
Вып. 3 / Под ред. К. Зигбана, пер. с англ. - 1969. -
Альфаро В.
Потенциальное рассеяние / Пер. с англ. А. М. Бродского и Толмачева В. В.. - М. : Мир, 1966. -274 с.
Потенциальное рассеяние / Пер. с англ. А. М. Бродского и Толмачева В. В.. - М. : Мир, 1966. -
Альфонсов В. Н.
Поэзия Бориса Пастернака : монография / Альфонсов В. Н. - 2-е изд. - СПб. : Сага, 2001. - 381 с. -ISBN 5-901609-01-8 .
Поэзия Бориса Пастернака : монография / Альфонсов В. Н. - 2-е изд. - СПб. : Сага, 2001. - 381 с. -
Альфонсов В. Н.
Слова и краски: Очерки из истории творческих связей поэтов и художников. - М.-Л. : Сов. писатель, 1966. -240 с.
Слова и краски: Очерки из истории творческих связей поэтов и художников. - М.-Л. : Сов. писатель, 1966. -
Альфорд Т. Л., Фельдман Л. К., Майер Дж. В.
Фундаментальные основы анализа нанопленок / Альфорд Т. Л., Фельдман Л. К., Майер Дж. В. ; МГУ им. М. В. Ломоносова. Науч. -образоват. центр по нанотехнологиям ; науч. ред. Образцов А. Н. ; пер. с англ. Образцов А. Н., Долганов М. А. - М. : Научный мир, 2012. - 390 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники). - Библиогр.в конце гл. - ISBN 978-5-91522-225-9 .
Фундаментальные основы анализа нанопленок / Альфорд Т. Л., Фельдман Л. К., Майер Дж. В. ; МГУ им. М. В. Ломоносова. Науч. -образоват. центр по нанотехнологиям ; науч. ред. Образцов А. Н. ; пер. с англ. Образцов А. Н., Долганов М. А. - М. : Научный мир, 2012. - 390 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники). - Библиогр.
Альфорс Л.
Лекции по квазиконформным отображениям / пер. с англ. В. В. Кривова; под ред. В. А. Зорича и Б. В. Шабата. - М. : Мир, 1969. -132 с.
Лекции по квазиконформным отображениям / пер. с англ. В. В. Кривова; под ред. В. А. Зорича и Б. В. Шабата. - М. : Мир, 1969. -
