Расширенный поиск

Галев А. В., Юдачев С. С.
   Исследование характеристик полупроводниковых приборов : метод. указания к выполнению лаб. работ по дисциплинам "Электроника" и "Электроника и микроэлектроника" / Галев А. В., Юдачев С. С. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2015. - 37 с. : ил. - Библиогр.: с.36. - ISBN 978-5-7038-4231-7.

Галкин В. И., Булычев А. Л., Лямин П. М.
   Полупроводниковые приборы : справочник / Галкин В. И., Булычев А. Л., Лямин П. М. - Минск : Беларусь, 1994. - 346 с. : ил. - ISBN 5-338-01022-4.

Галкин В. И., Булычев А. Л., Лямин П. М.
   Полупроводниковые приборы. Транзисторы широкого применения : справочник / Галкин В. И., Булычев А. Л., Лямин П. М. - Минск : Беларусь, 1995. - 381 с. : ил. - ISBN 985-01-0101-6.

Гаман В. И.
   Физика полупроводниковых приборов : учебное пособие для вузов / Гаман В. И. - 2-е изд., доп. и перераб. - Томск : Изд-во Научно-технической литературы : Центр "Интеграция", 2000. - 425 с. - Библиогр.: с.407-411. - ISBN 5-89503-081-5.

Гаряинов С. А., Тиходеев Ю. С.
   Физические модели полупроводниковых приборов с отрицательным сопротивлением : [монография] / Гаряинов С. А., Тиходеев Ю. С. - Москва : Радио и связь, 1997. - 275 с. : ил. - Библиогр.: с.269-273. - ISBN 5-256-00857-9.

Гаценко В. П., Юрков Ю. В.
   Исследование надежности автоматизированного вакуумного технологического оборудования в условиях эксплуатации / Гаценко В. П., Юрков Ю. В. // Наукоемкие технологии. - 2007. - Т. 8, № 4. - С. 50-54.

Герман-Галкин С. Г.
   Виртуальные лаборатории полупроводниковых систем в среде Matlab-Simulink : учебник / Герман-Галкин С. Г. - Санкт-Петербург : Лань, 2013. - 442 с. : ил. + CD-ROM. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с.438-440. - ISBN 978-5-8114-1520-5.

   Гетероструктурная СВЧ-электроника в России / Вьюгинов В. Н., Гудков А. Г., Добров В. А., Мешков С. А., Попов В. В. // Электромагнитные волны и электронные системы. - 2012. - Т. 17, № 1. - С. 4-9.

Глушко А. А., Морозов С. А., Чистяков М. Г.
   Исследование чувствительной области МОП-транзистора к воздействию вторичных частиц, возникающих вследствие ионизирующего излучения / Глушко А. А., Морозов С. А., Чистяков М. Г. // Микроэлектроника. - 2023. - Т. 52, № 4. - С. 282-289.

Горлачева Е. Н.
   Обзор мирового рынка перспективных конструкционных материалов / Горлачева Е. Н. // Машиностроитель. - 2014. - № 6. - С. 20-30.