Расширенный поиск

   Структурная диагностика распределенных систем как инструмент анализа в медицине / Досько С. И., Спасенов А. Ю., Кучеров К. В., Юганов Е. В. // Динамика сложных систем. - 2020. - Т. 14, № 1. - С. 46-54.

   Структурный синтез сложного электротехнического оборудования на основе метода удовлетворения ограничений / Бочкарев С. В., Овсянников М. В., Петроченков А. Б., Буханов С. А. // Электротехника. - 2015. - № 6. - С. 63-69.

Ступель Ф. А.
   Реле защиты и автоматики. Теория и исполнения электромеханических и механических реле / Ступель Ф. А. - Москва ; Ленинград : Госэнергоиздат, 1941. - 370 с. : ил.

Стяжкин А. Н., Славянов А. С., Хрусталев О. Е.
   Особенности модернизации радиоэлектронной промышленности / Стяжкин А. Н., Славянов А. С., Хрусталев О. Е. // Электронная промышленность. - 2014. - № 3. - С. 94-100.

Субботин Е. А.
   Методы и средства измерения параметров оптических телекоммуникационных систем : учебное пособие / Субботин Е. А. - Москва : Горячая линия - Телеком, 2013. - 224 с. : ил. - (Учебное пособие). - Библиогр.: с.210-211. - ISBN 978-5-9912-0304-3.

Субботин Е. А.
   Методы и средства измерения параметров оптических телекоммуникационных систем : учебное пособие / Субботин Е. А. - М. : Горячая линия - Телеком, 2016. - 224 с. : ил. - (Учебное пособие для вузов. Специальность). - Библиогр.: с.210-211. - ISBN 978-5-9912-0304-3.

Субботин С. В., Большаков Д. Ю.
   Современные высотные беспилотные летательные аппараты и их радиолокационное разведывательное оборудование / Субботин С. В., Большаков Д. Ю. // Наукоемкие технологии. - 2007. - Т. 8, № 2-3. - С. 62-70.

   Субмикронная катодолюминесцентная диагностика прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчет о НИР (промежут.) / МГТУ. Фил. в Калуге ; рук. темы Степович М. А. - Москва, 2000. - 106 л.

   Субмикронная катодолюминесцентная диагностика прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал ; рук. НИР Степович М. А. - Москва, 2001. - 69 л. - Библиогр.: л.65-69. - Шифр ОК-ФН3-00Ф. - ГР 01200002393. - Инв. № 02.2.00104557.

   Субмикронная электроннозондовая диагностика материалов и структур микро- и наноэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал ; рук. темы Степанович М. А. - Москва, 2003. - 96 л. - Библиогр.: л.89-97. - Шифр ОК-ФН3-02Ф. - Инв. № 02.20.0302542.