Личный кабинет
2 записи
Рыжов Э. В., Горленко О. А.
Математические методы в технологических исследованиях : монография / Рыжов Э. В., Горленко О. А. ; Академия наук Украинской ССР, Институт сверхтвёрдых материалов ; отв. ред. Гавриш А. Г. - Киев : Наукова думка, 1990. - 183 с. : рис., табл. - Библиогр.:с. 174-177 . - ISBN 5-12-001622-7 .
Математические методы в технологических исследованиях : монография / Рыжов Э. В., Горленко О. А. ; Академия наук Украинской ССР, Институт сверхтвёрдых материалов ; отв. ред. Гавриш А. Г. - Киев : Наукова думка, 1990. - 183 с. : рис., табл. - Библиогр.:
2 экз.
Золотаревский С. Ю.
Метрологическое обеспечение параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : [учебное пособие] / Золотаревский С. Ю. ; ред. Киселев М. И. - М. : Университетская книга, 2016. - 197 с. : ил. - Библиогр.:с. 186-197 . - ISBN 978-5-98699-198-6 .
Метрологическое обеспечение параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : [учебное пособие] / Золотаревский С. Ю. ; ред. Киселев М. И. - М. : Университетская книга, 2016. - 197 с. : ил. - Библиогр.:
16 экз.
