Личный кабинет
1 запись
Золотаревский С. Ю.
Метрологическое обеспечение параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : [учебное пособие] / Золотаревский С. Ю. ; ред. Киселев М. И. - М. : Университетская книга, 2016. - 197 с. : ил. - Библиогр.:с. 186-197 . - ISBN 978-5-98699-198-6 .
Метрологическое обеспечение параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : [учебное пособие] / Золотаревский С. Ю. ; ред. Киселев М. И. - М. : Университетская книга, 2016. - 197 с. : ил. - Библиогр.:
16 экз.
