8 записей
Малышев К. В., Скороходов Е. А., Башков В. М.
Наноматериалы для радиоэлектронных средств [Электронный ресурс] : методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств" / Малышев К. В., Скороходов Е. А., Башков В. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2007.
Ч. 1 : Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов. - 2007. - 41 с. : ил.
Наноматериалы для радиоэлектронных средств [Электронный ресурс] : методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств" / Малышев К. В., Скороходов Е. А., Башков В. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2007.
Ч. 1 : Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов. - 2007. - 41 с. : ил.
Малышев К. В., Башков В. М., Мешков С. А.
Наноматериалы для радиоэлектронных средств [Электронный ресурс] : методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств" / Малышев К. В., Башков В. М., Мешков С. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2007.
Ч. 2 : Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа. - 2007. - 39 с. : ил.
Наноматериалы для радиоэлектронных средств [Электронный ресурс] : методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств" / Малышев К. В., Башков В. М., Мешков С. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2007.
Ч. 2 : Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа. - 2007. - 39 с. : ил.
Бекман, И. Н. Ядерная медицина: физические и химические основы : учебник для вузов / И. Н. Бекман. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2024. — 400 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-00691-9.
Жигалина О. М., Базалеева К. О.
Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии : метод. указания к выполнению лаб. работы по дисциплине "Методы структурного анализа" / Жигалина О. М., Базалеева К. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2017. - 34 с. : ил. - Библиогр.:с. 29 . - ISBN 978-5-7038-4785-5 .
Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии : метод. указания к выполнению лаб. работы по дисциплине "Методы структурного анализа" / Жигалина О. М., Базалеева К. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2017. - 34 с. : ил. - Библиогр.:
Информационные технологии : учебник для вузов / В. В. Трофимов, О. П. Ильина, В. И. Кияев, Е. В. Трофимова ; под редакцией В. В. Трофимова. — Москва : Издательство Юрайт, 2024. — 546 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-18340-5.
Проектирование информационных систем : учебник и практикум для вузов / Д. В. Чистов, П. П. Мельников, А. В. Золотарюк, Н. Б. Ничепорук. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2024. — 273 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-20361-5.
Сидняев, Н. И. Теория планирования эксперимента и анализ статистических данных : учебник и практикум для вузов / Н. И. Сидняев. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2024. — 495 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-05070-7.
Лобанова, Н. М. Эффективность информационных технологий : учебник и практикум для вузов / Н. М. Лобанова, Н. Ф. Алтухова. — Москва : Издательство Юрайт, 2024. — 237 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-00222-5.