Расширенный поиск

   Эллипсометрия: теория, методы, приложения : сборник научных трудов / Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт физики полупроводников ; отв. ред. Свиташев К. К., Мардежов А. С. - Новосибирск : Наука, Сибирское отделение, 1991. - 251 с. : ил. - Библиогр. в конце статей. - ISBN 5-02-029916-2.

Конев В. А., Любецкий Н. В., Тиханович С. А.
   Радиоволновая эллипсометрия диэлектрических структур / Конев В. А., Любецкий Н. В., Тиханович С. А. ; Академия наук Белорусской ССР, Институт прикладной физики ; науч. ред. Шашков А. Г. - Минск : Наука и техника, 1989. - 132 с. : рис., граф. - Библиогр.: с. 129-131. - ISBN 5-343-00059-2.

Макеев М. О., Мешков С. А., Иванов Ю. А.
   Применение инфракрасной спектроскопической эллипсометрии в наноинженерии : монография / Макеев М. О., Мешков С. А., Иванов Ю. А. - Российский университет дружбы народов, 2018. - ISBN 978-5-209-08575-1.