Личный кабинет
3 записи
Валитов А. М. -З., Шилов Г. И.
Приборы и методы контроля толщины покрытий : справочное пособие / Валитов А. М. -З., Шилов Г. И. - Л. : Машиностроение, 1970. - 119 с. : ил. - Библиогр.:с. 118-119 .
Приборы и методы контроля толщины покрытий : справочное пособие / Валитов А. М. -З., Шилов Г. И. - Л. : Машиностроение, 1970. - 119 с. : ил. - Библиогр.:
2 экз.
Статья
Комшин А. С., Сырицкий А. Б.
Метрологическое обеспечение нанотехнологий в промышленных условиях / Комшин А. С., Сырицкий А. Б. // Наноинженерия. - 2014. - № 4. -С. 14-19 .
Метрологическое обеспечение нанотехнологий в промышленных условиях / Комшин А. С., Сырицкий А. Б. // Наноинженерия. - 2014. - № 4. -
Статья
Тимофеенко Е. О., Новикова А. А., Синица М. О.
Измерение параметров формы и расположение крупногабаритных деталей / Тимофеенко Е. О., Новикова А. А., Синица М. О. // Будущее машиностроения России. Всероссийская конференция молодых учёных и специалистов ( с международным участием), 17-я, Москва, 21-24 сентября 2024 г. : сборник докладов : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет), Союз машиностроителей России. - 2025. - Т. 1. -С. 102-104 .
Измерение параметров формы и расположение крупногабаритных деталей / Тимофеенко Е. О., Новикова А. А., Синица М. О. // Будущее машиностроения России. Всероссийская конференция молодых учёных и специалистов ( с международным участием), 17-я, Москва, 21-24 сентября 2024 г. : сборник докладов : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет), Союз машиностроителей России. - 2025. - Т. 1. -
