Личный кабинет
2 записи
Валитов А. М. -З., Шилов Г. И.
Приборы и методы контроля толщины покрытий : справочное пособие / Валитов А. М. -З., Шилов Г. И. - Л. : Машиностроение, 1970. - 119 с. : ил. - Библиогр.:с. 118-119 .
Приборы и методы контроля толщины покрытий : справочное пособие / Валитов А. М. -З., Шилов Г. И. - Л. : Машиностроение, 1970. - 119 с. : ил. - Библиогр.:
2 экз.
Статья
Комшин А. С., Сырицкий А. Б.
Метрологическое обеспечение нанотехнологий в промышленных условиях / Комшин А. С., Сырицкий А. Б. // Наноинженерия. - 2014. - № 4. -С. 14-19 .
Метрологическое обеспечение нанотехнологий в промышленных условиях / Комшин А. С., Сырицкий А. Б. // Наноинженерия. - 2014. - № 4. -
