Расширенный поиск

Гладышев В. О., Портнов Д. И.
   Зависимость интенсивности лазерного излучения от упругой деформации вращающегося оптического диска с отражающим покрытием / Гладышев В. О., Портнов Д. И. // Оптика и спектроскопия. - 2016. - Т. 121, № 6. - С. 970-976.

Горелик В. С., Филатов В. В.
   Спектроскопия стоп-зон в искусственных опалах, заполненных спиртовым раствором йодистого калия / Горелик В. С., Филатов В. В. // Оптика и спектроскопия. - 2012. - Т. 113, № 3. - С. 301-305.

Зейликович И. С., Спорник Н. М.
   Голографическая диагностика прозрачных сред / Зейликович И. С., Спорник Н. М. - Минск : Университетское, 1988. - 207 с. : ил. - Библиогр.: с.198-207. - ISBN 5-7855-0086-8.

Иванов С. Н., Локтионов Е. Ю., Протасов Ю. Ю.
   Исследование оптических характеристик конструкционных материалов фотонных энергоустановок на источнике синхротронного излучения. Ч.2 / Иванов С. Н., Локтионов Е. Ю., Протасов Ю. Ю. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Естественные науки. - 2010. - № 1. - С. 80-88.

   Эллипсометрия - прецизионный метод контроля тонкопленочных структур с субнанометровым разрешением / Швец В. А., Спесивцев Е. В., Рыхлицкий С. В., Михайлов Н. Н. // Российские нанотехнологии. - 2009. - Т. 4, т. 3-4. - С. 106-118.