Расширенный поиск

Бахматов П. В., Григорьев В. В., Калугина А. А.
   Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке : учебное пособие / Бахматов П. В., Григорьев В. В., Калугина А. А. - М. ; Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 147 с. : ил. - Библиогр.: с. 143-144. - ISBN 978-5-9729-2061-7.

Быков Ю. А., Карпухин С. Д.
   Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ (аппаратура, принципы работы, применение) : учеб. пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Быков Ю. А., Карпухин С. Д. ; ред. Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 30 с. : ил. - Библиогр.: с. 29. - ISBN 5-7038-2014-6.

Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А.
   Электронная микроскопия : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А. ; ред. Шахнов В. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 167 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 11). - Библиогр.: с. 160-164. - ISBN 978-5-7038-3502-9.

   Всесоюзная конференция по электронной микроскопии, десятая, Ташкент, 5 октября - 8 октября 1976 г. : тезисы докладов / Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии, Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова, Институт физики твёрдого тела, Академия наук Узбекской ССР, Министерство здравоохранения Узбекской ССР, Ташкентский медицинский институт, Институт биохимии, Институт ядерной физики, Институт электроники. - М., 1976.
   Т. 1. - 1976. - 388 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

   Всесоюзная конференция по электронной микроскопии, десятая, Ташкент, 5 октября - 8 октября 1976 г. : тезисы докладов / Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии, Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова, Институт физики твёрдого тела, Академия наук Узбекской ССР, Министерство здравоохранения Узбекской ССР, Ташкентский медицинский институт, Институт биохимии, Институт ядерной физики, Институт электроники. - М., 1976.
   Т. 2. - 1976. - 401 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

Зевайль А., Томас Дж.
   Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени : [учеб. пособие] / Зевайль А., Томас Дж. ; пер. с англ. Сухов А. В. - Долгопрудный : Интеллект, 2013. - 327 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91559-102-7.

Карпухин С. Д., Быков Ю. А.
   Атомно-силовая микроскопия : учеб. пособие по дисциплине "Современные методы исследования структуры материалов" / Карпухин С. Д., Быков Ю. А. ; ред. Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2012. - 38 с. : ил. - Библиогр.: с. 38.

Ковалев А. И.
   Современные методы иследования поверхности металлов и сплавов / Ковалев А. И. - 1989. - 190 с.

Коржавый А. П., Шаталов В. К.
   Микродуговое оксидирование в технике создания эмитирующих наноструктур лазерных газоразрядных датчиков / Коржавый А. П., Шаталов В. К. // Электромагнитные волны и электронные системы. - 2016. - Т. 21, № 1. - С. 78-84.

Масленников О. Ю., Рухляда П. Н.
   Абсорбция водорода и изменение эмиссионных свойств рутения / Масленников О. Ю., Рухляда П. Н. // Наукоемкие технологии. - 2007. - Т. 8, № 2-3. - С. 88-91.