Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана
Очистить
1 запись
Валиев Р. З., Вергазов А. Н., Герцман В. Ю.
   Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии : монография / Валиев Р. З., Вергазов А. Н., Герцман В. Ю. ; Академия наук СССР, Институт проблем сверхпластичности металлов. - М. : Наука, 1991. - 230 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.: с. 221-225. - ISBN 5-02-000195-3.
1 экз.